dage x-ray 測(cè)試儀設(shè)計(jì)滿(mǎn)足pcb和半導(dǎo)體工業(yè)的增長(zhǎng)需求,用戶(hù)可以輕松獲取高質(zhì)量、高放大倍數(shù)和高分辨率下的被測(cè)物任何方位的圖像。由于采用開(kāi)管(open tube)技術(shù),在放大倍數(shù)方面遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)了采用閉管(closed tube)技術(shù)的x光檢測(cè)儀達(dá)到亞微米級(jí),能滿(mǎn)足客戶(hù)更高精度的需求。