| 項目 | 技術指標 |
| 儀器型號 | EX3 |
| 測量方式 | 自動測量 |
| 樣品放置方式 | 水平放置 |
| 光源 | 半導體激光器，波長635nm |
| 膜厚測量重復性* | 0.5nm (對于Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 膜厚范圍 | 透明薄膜：1-4000nm 吸收薄膜則與材料性質相關 |
| 折射率范圍 | 1.3 – 10 |
| 探測光束直徑 | Φ2-3mm |
| 入射角度 | 30°-90°，精度0.05° |
| 偏振器方位角讀數范圍 | 0-360° |
| 偏振器步進角 | 0.014° |
| 樣品方位調整 | Z軸高度調節(jié)：16mm 二維俯仰調節(jié)：±4° |
| 允許樣品尺寸 | 圓形樣品直徑Φ120mm，矩形樣品可達120mm x 160mm |
| 配套軟件 | * 用戶權限設置 * 多種測量模式選擇 * 多個測量項目選擇 * 方便的數據分析、計算、輸入輸出 |
| 外形尺寸 | （入射角度70°時）450*375*260mm |
| 儀器重量（凈重） | 15Kg |
北京海創(chuàng)玻璃厚度儀
玻璃厚度儀
玻璃厚度儀專用于測量單層玻璃，夾層玻璃（中空玻璃）和柱型玻璃管等的厚度。尤其適用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的測量場合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃窗厚度的測量。對于中空玻璃厚度的測量，同時測得各層玻璃及中間空氣層的厚度。
1．激光反射原理，單側測量；2．中空玻璃，同時測空氣夾層厚度和玻璃厚度；3．量程大:玻璃厚度70mm，空氣夾層34mm；4．操作簡單方便，測量快速，輕巧便攜，節(jié)能環(huán)保等特點；5．適用于質量檢測、監(jiān)理、教學、生產、銷售、工程施工等場合。
1.1: 外形尺寸 長160mm × 寬 55mm × 高25mm1.2: 儀器重量 250克1.3: 電池為標準2032紐扣電池1.4：測量精度 ± 0.5mm1.5：量程: 玻璃厚度70mm，空氣夾層34mm。
福州測量薄膜厚度儀器林州光譜型橢偏儀林州深受廣大客戶青睞
產品簡介: ETSys-Map-PV是針對高端薄膜太陽電池研發(fā)和質量控制領域中大面積樣品檢測專門設計的在線薄膜測量系統(tǒng)。 ETSys-Map-PV用于對1.4m * 1.1m及以上的大面積薄膜太陽電池樣品進行在線檢測？蓽y量光滑平面或粗糙表面基底上的納米薄膜，包括單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數k；并可同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數k。可測量樣品上指定區(qū)域的樣品參數以及樣品表面的均一性分布。 ETSys-Map-PV融合量拓科技在高精度激光橢偏儀及光伏在太陽能電池領域的先進技術和產品設計方面的經驗，性能卓越。特點:大面積絨面樣品上全表面測量可對大面積絨面薄膜太陽電池樣品上各點的性質進行分析和比較。先進的光能量增強技術、低噪聲的探測器件以及高信噪比的微弱信號處理方法，實現了對粗糙表面散射為主和極低反射率為特征的絨面太陽電池表面鍍層的高靈敏檢測。微米量級的全面積掃描精度先進的系統(tǒng)設計，能夠使探頭到達樣品上每個點，掃描精度達到微米量級。原子層量級的膜厚分析精度采用非接觸、無破壞性的橢偏測量技術，對納米薄膜達到極高的測量準確度和靈敏度，膜厚測量靈敏度可達到0.05nm。簡單方便安全的儀器操作用戶只需一個按鈕即可完成復雜的材料測量和分析過程，數據一鍵導出。豐富的模型庫、材料庫方便用戶進行高級測量設置。應用: ETSys-Map-PV適合于高精度要求的薄膜太陽電池研發(fā)和質量控制。 ETSys-Map-PV可用于測量大面積的薄膜太陽電池樣品上單層或多層納米薄膜層構樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數k； ETSys-Map-PV可用于測量塊狀材料的折射率n及消光系數k； ETSys-Map-PV可應用于：大面積薄膜太陽電池基底的材料測量薄膜太陽電池玻璃基底上透明導電氧化物（TCO）鍍膜測量 技術指標: 項目 技術指標 ![]()
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欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200098.htmlEM12 精致型多入射角激光橢偏儀型號:JX200092ETSys-Map-PV在線薄膜測量系統(tǒng)![]()
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200092.htmlETSys-Map-PV在線薄膜測量系統(tǒng)![]()
福州測量薄膜厚度儀器林州光譜型橢偏儀林州深受廣大客戶青睞多種型號圖片
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EX3自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測量原理，針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款自動測量型教學儀器。與EM22儀器相比，該儀器采用半導體激光器作為光源，穩(wěn)定性好，體積更小。EX3儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。EX3儀器還可用于同時測量塊狀材料（如，金屬、半導體、介質）的折射率n和消光系數k。特點:經典消光法橢偏測量原理儀器采用消光法橢偏測量原理，易于理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。緊湊的一體化結構集成一體化設計，簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機相連，方便儀器使用。高穩(wěn)定性光源采用半導體激光器作為探測光的光源，穩(wěn)定性高，噪聲低。豐富實用的樣品測量功能可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復折射率等。便捷的自動化操作儀器軟件可自動完成樣品測量，并可進行方便的測量數據分析、儀器校準等操作。安全的用戶使用權限管理軟件中設置了用戶使用權限（包括：管理員、等模式），便于儀器管理和使用？蓴U展的儀器功能利用本儀器，可通過適當擴展，完成多項偏振測量實驗，如馬呂斯定律實驗、旋光測量實、旋光等。應用領域:EX3適合于教學中單層納米薄膜的薄膜厚度測量，也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數k。EX3可測量的樣品涉及微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領域。技術指標:
注：(1)測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續(xù)測量30次的標準差。性能保證:ISO9001國際質量體系下的儀器質量保證專業(yè)的儀器使用培訓專業(yè)的橢偏測量原理課程
EM12是采用量拓科技先進的測量技術，針對中端精度需求的研發(fā)和質量控制領域推出的精致型多入射角激光橢偏儀。 EM12可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準確測量？捎糜跍y量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數k；也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數k；亦可用于實時測量納米薄膜動態(tài)生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數k。多入射角度設計實現了納米薄膜的厚度測量。 EM12采用了量拓科技多項專利技術。特點：次納米量級的高靈敏度國際先進的采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件、高質量的制造工藝實現并保證了能夠測量極薄納米薄膜，膜厚精度可達到0.2nm。1.6秒的快速測量國際水準的儀器設計，在保證精度和準確度的同時，可在1.6秒內快速完成一次測量，可對納米膜層生長過程進行測量。簡單方便的儀器操作用戶只需一個按鈕即可完成復雜的材料測量和分析過程，數據一鍵導出。豐富的模型庫、材料庫方便用戶進行高級測量設置。應用：EM12適合于中端精度要求的科研和工業(yè)環(huán)境中的新品研發(fā)或質量控制。EM12可用于測量單層或多層納米薄膜層構樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數k；可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數k；可用于實時測量快速變化的納米薄膜的厚度、折射率n和消光系數k。EM12可應用的納米薄膜領域包括：微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等？蓱玫膲K狀材料領域包括：固體（金屬、半導體、介質等），或液體（純凈物或混合物）。技術指標:
| 項目 | 技術指標 |
| 儀器型號 | EM12 |
| 激光波長 | 632.8nm (He-Ne Laser) |
| 膜厚測量重復性（1） | 0.2nm (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 折射率測量重復性（1） | 2x10-3 (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 單次測量時間 | 與測量設置相關，典型1.6s |
| 的膜層范圍 | 透明薄膜可達4000nm 吸收薄膜則與材料性質相關 |
| 光學結構 | PSCA（Δ在0°或180°附近時也具有極高的準確度） |
| 激光光束直徑 | 1-2mm |
| 入射角度 | 40°-90°可手動調節(jié)，步進5° |
| 樣品方位調整 | Z軸高度調節(jié)：±6.5mm 二維俯仰調節(jié)：±4° 樣品對準：光學自準直和顯微對準系統(tǒng) |
| 樣品臺尺寸 | 平面樣品直徑可達Φ170mm |
| 外形尺寸 | 887 x 332 x 552mm (入射角為90º時) |
| 儀器重量（凈重） | 25Kg |
| 選配件 | 水平XY軸調節(jié)平移臺 真空吸附泵 |
| 軟件 | ETEM軟件： l 中英文界面可選； l 多個預設項目供快捷操作使用； l 單角度測量/多角度測量操作和數據擬合； l 方便的數據顯示、編輯和輸出 l 豐富的模型和材料數據庫支持 |
注：(1)測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續(xù)測量25次所計算的標準差。
性能保證:- 穩(wěn)定性的He-Ne激光光源、先進的采樣方法，保證了高穩(wěn)定性和高準確度
- 高精度的光學自準直系統(tǒng)，保證了快速、高精度的樣品方位對準
- 穩(wěn)定的結構設計、可靠的樣品方位對準，結合先進的采樣技術，保證了快速、穩(wěn)定測量
- 分立式的多入射角選擇，可應用于復雜樣品的折射率和厚度的測量
- 一體化集成式的儀器結構設計，使得系統(tǒng)操作簡單、整體穩(wěn)定性提高，并節(jié)省空間
- 一鍵式軟件設計以及豐富的物理模型庫和材料數據庫，方便用戶使用
- 可選配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標片 NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標片 VP01真空吸附泵 VP02真空吸附泵 樣品池
ETSys-Map-PV是針對高端薄膜太陽電池研發(fā)和質量控制領域中大面積樣品檢測專門設計的在線薄膜測量系統(tǒng)。 ETSys-Map-PV用于對1.4m * 1.1m及以上的大面積薄膜太陽電池樣品進行在線檢測？蓽y量光滑平面或粗糙表面基底上的納米薄膜，包括單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數k；并可同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數k？蓽y量樣品上指定區(qū)域的樣品參數以及樣品表面的均一性分布。 ETSys-Map-PV融合量拓科技在高精度激光橢偏儀及光伏在太陽能電池領域的先進技術和產品設計方面的經驗，性能卓越。特點:大面積絨面樣品上全表面測量可對大面積絨面薄膜太陽電池樣品上各點的性質進行分析和比較。先進的光能量增強技術、低噪聲的探測器件以及高信噪比的微弱信號處理方法，實現了對粗糙表面散射為主和極低反射率為特征的絨面太陽電池表面鍍層的高靈敏檢測。微米量級的全面積掃描精度先進的系統(tǒng)設計，能夠使探頭到達樣品上每個點，掃描精度達到微米量級。原子層量級的膜厚分析精度采用非接觸、無破壞性的橢偏測量技術，對納米薄膜達到極高的測量準確度和靈敏度，膜厚測量靈敏度可達到0.05nm。簡單方便安全的儀器操作用戶只需一個按鈕即可完成復雜的材料測量和分析過程，數據一鍵導出。豐富的模型庫、材料庫方便用戶進行高級測量設置。應用: ETSys-Map-PV適合于高精度要求的薄膜太陽電池研發(fā)和質量控制。 ETSys-Map-PV可用于測量大面積的薄膜太陽電池樣品上單層或多層納米薄膜層構樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數k； ETSys-Map-PV可用于測量塊狀材料的折射率n及消光系數k； ETSys-Map-PV可應用于：大面積薄膜太陽電池基底的材料測量薄膜太陽電池玻璃基底上透明導電氧化物（TCO）鍍膜測量 技術指標:
注：（1）測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續(xù)測量25次所計算的標準差。性能保證高穩(wěn)定性的He-Ne激光光源、高精度的采樣方法以及低噪聲探測技術，保證了系統(tǒng)的高穩(wěn)定性和高準確度穩(wěn)定的結構設計、可靠的樣品方位對準，結合先進的采樣技術，保證了快速、穩(wěn)定測量一體化集成式的結構設計，使得系統(tǒng)操作簡單、整體穩(wěn)定性提高一鍵式軟件設計以及豐富的物理模型庫和材料數據庫，方便用戶使用 可選配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標片 NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標片
| 項目 | 技術指標 |
| 系統(tǒng)型號 | ETSys-Map-PV |
| 結構類型 | 在線式 |
| 激光波長 | 632.8nm (He-Ne laser) |
| 膜厚測量重復性（1） | 0.05nm (對于Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 折射率n精度（1） | 5x10-4 (對于Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 結構 | PSCA |
| 激光光束直徑 | ~1 mm |
| 入射角度 | 60°-75°可選 |
| 樣品放置 | 放置方式：水平 運動：X軸單方向運動 運動范圍：>1.4m 三維平移調節(jié) 二維俯仰調節(jié) 可對樣品進行掃描測量 |
| 樣品臺尺寸 | 1.4m*1.1m，并可定制。 |
| 測量速度 | 典型0.6s-4s /點（取決于樣品種類及測量設置） |
| 的膜層厚度測量范圍 | 光滑平面樣品：透明薄膜可達4000nm，吸收薄膜與材料性質相關 |
| 選配件 | 樣品監(jiān)視系統(tǒng) 自動樣品上片系統(tǒng) |
| 型號:JX200089EX3 自動橢圓偏振測厚儀 | 型號:JX200098EM12 精致型多入射角激光橢偏儀 | 型號:JX200092ETSys-Map-PV在線薄膜測量系統(tǒng) |
YG141P型全自動土工布厚度儀
【適用范圍】：用于土工合成材料和相關產品在不同壓力及規(guī)定時間下的厚度的測定。【符合標準】：JTG E50、ISO 9863、GB/T 13761【產品特點】：1.微機控制，超大觸摸屏幕控制界面，測試過程動態(tài)顯示。 2.采用進口傳感器測量，精度高達萬分之二，無人工誤差。3.測試壓力參數2KPa，20KPa，200KPa等任意設置。4.測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差.5.實時顯示測量結果的最大值、最小值、平均值等分析數據，方便用戶進行判斷6.具有電腦接口以及打印機接口，具有單點測量以及多點測量方式可選。7.際高專利產品，國內唯一一款全自動，智能型厚度測試儀。【技術參數】：1、壓腳面積：25cm (圓形直徑：Ф56.42mm)或選配其他面積2、穩(wěn)壓時間：10S 20S，30S，40S，50S或其他時間任意設置3、測試壓力：2±0.01KPa；20±0.1KPa；200±0.1KPa以及其他壓力4、測試厚度：0-50mm5、傳感器量程： 500N6、精度：≤±0.02%F.S 7、數據輸出：聯(lián)機控制，打印輸出，編輯保存 8、分辨率：0.001mm9、測量方式：單點測量和多點測量任意選擇10、電源電壓： AC220V±10% 功率：100W11、外形尺寸：360mm*500mm*700mm12 、重量：約45KG
FG03-YG141D數字式織物厚度儀
數字式織物厚度儀
| 用于各種機織物、針織物和土工布的厚度測定。 適用標準：ISO5048 9073 9863
|  |
 |
| 測定厚度范圍: | 0.01~10mm |
| 最小分度值: | 0.01mm |
| 壓腳直徑: | Φ7.98、Φ11.28、Φ25.22、Φ35.68、Φ50.48mm五檔 |
| 壓重砝碼: | 25CN、50CN、100cN、200cN |
| 壓重時間: | 10S、30S |
| 外形尺寸: | 410×160×300mm(L×W×H) |
| 重量: | 25kg |
| 電源: | AC220V 50Hz |
H51非金屬板厚度測試儀，樓板測厚度儀
H51非金屬板厚度測試儀，樓板測厚度儀產品特性：非金版屬測試儀產品簡介：H51 非金屬板厚度測試儀（又稱樓板儀）用來自動測量非金屬板（如混凝土，巖土，玻璃板等）的厚度，具有厚度測量、數據分析、數據存儲與輸出等功能，是一種便攜式、使用方便、測量精確的智能化厚度測量儀
H51 非金屬板厚度測試儀（又稱樓板儀）用來自動測量非金屬板（如混凝土，巖土，玻璃板等）的厚度，具有厚度測量、數據分析、數據存儲與輸出等功能，是一種便攜式、使用方便、測量精確的智能化厚度測量儀。
技術指標厚度測量范圍 ：40mm～800mm 示值最大誤差 ：40 ～ 600mm ±1mm 601～800mm ±2mm數據存儲容量 ：3.2萬組測點工作環(huán)境要求 環(huán)境溫度：-10℃～＋40℃ 相對濕度：<90%RH電磁干擾：無強交變電磁場 不得長時間陽光直射6節(jié)5號堿性電池，供電時間大于30小時。 依據規(guī)范中華人民共和國國家標準《混凝土結構工程施工質量驗收規(guī)范》GB50204-2002
性能特點測試距離大。測試距離高達800mm，測試精度優(yōu)于其他同類產品。實時顯示測量信息。自動的判讀并鎖定樓板的厚度值，無需人工參與，大大提高了測試精度。儀器測試速度快。我公司采用高速處理平臺，對樓板厚度的判定速度快。探頭的使用壽命長。我公司樓板儀探頭底面采用高質量耐磨層，大大的提高了探頭和儀器的使用壽命。保存測試日期。方便用戶的數據管理。便攜的萬向延長桿。采用可伸縮式延長桿、萬向節(jié)設計，現場使用非常的方便。功能強大的專業(yè)的windows數據分析處理軟件？梢詧D形的方式表示測試結果，可以直接生成Word檢測報告，方便快捷。
土工布厚度儀，供應土工布厚度儀
| 詳細說明: |
| 土工布厚度儀適用范圍：用于土工布合成材料在不同的壓力和規(guī)定的受壓時間，測試其厚度。 土工布厚度儀符合標準：JTJ/T060-98《公路土工合成材料試驗規(guī)程》 技術參數： 壓腳面積：25cm2（壓腳直徑：Ф56.42mm） 壓腳重量5N（自重：510.2g四只） 二次壓重20kPa±0.1kPa（壓腳加壓桿：509.8g） 三次壓重200kPa±1kPa（壓腳加法碼：5098.5g） （電子式）百分表：0～24mm 最小分度值：0.01mm （機械式）千分表：0～1mm 最小分度值：0.001mm （電子式）秒表 最小分度值：0.1S |
LS-3葉片厚度儀 LS-3植物葉片厚度測量儀
名 稱:葉片厚度儀
型 號：LS-3
品 牌：綠博
產 地：浙江
優(yōu)惠價格：1200元
LS-3葉片厚度儀產品特點：
葉片是植物最重要的器官，其形態(tài)變化可以反映出植物生長狀態(tài)的變化，如光合作用、水分情況、養(yǎng)分情況等。研究表明，葉片厚度變化具有周期規(guī)律性，可分為長周期和短周期（24小時）。掌握這些規(guī)律對研究植物水分狀態(tài)具有重要意義。
通常的灌溉系統(tǒng)是以空氣的溫度、濕度以及土壤的濕度作為控制參數，屬于開環(huán)控制。針對這一問題，提出了以植物的器官(葉片、莖桿、果實)的幾何參數為控制參數的智能節(jié)水灌溉控制系統(tǒng)，屬于閉環(huán)控制。
LS-3葉片厚度儀技術參數：
測量范圍：0－－10mm
分 辨 率：0.01mm
精 度：0.015mm
接觸面積：Φ10mm
讀取裝置：指針
如需了解更多詳情請聯(lián)系廣州航信科學儀器有限公司，來電價格有優(yōu)惠
該產品本公司免費承擔至全國各地（僅限物流公司可到達網絡點）的運輸費用，不含送貨上門；如需送貨上門，根據貴單位所在具體地址另行收費，偏遠地區(qū)請先至電。本公司銷售產品保修一年，終身維護。
YG141織物厚度儀
產品信息 型號： YG141N用途：用于各種機織物、針織物和非織布的厚度測定。適用標準 ：GB/T3820-1997, FZ/T60004, ISO5084, 9073等。主要技術指標:
型 號 | YG141N |
測定厚度范圍 | 0.01-10mm, LCD |
最小分度值 | 0.01mm |
壓腳面積 | 100,2000,2500,10000(mm2) |
壓重砝碼 | 50CN(二只),100CN(二只),200CN(一只) |
壓重時間 | 10S,30S |
重 量 | 30kg |
外形尺寸 | 210x450x310mm |
電 源 | AC220V±10% 50Hz |
26系列腐蝕厚度儀
26系列超聲波測厚儀包括26MG,26MG-XT和26XTDL,操作簡單,是測量腐蝕金屬理想的便攜式測厚儀。測厚儀使用雙晶探頭,從被測物體的一面就可以測量被腐蝕,有凹痕,被氧化或呈粒狀等其它較難測量物體的厚度。有多種探頭可選？蓪穸仍0.5mm--500mm之間,溫度在-20C°--+500C°之間的物體進行測量。 26MG基本型測厚儀的將操作簡單,價格低廉和功能齊全三大優(yōu)點融為一體. 并具有快速最小捕捉模式和凍結模式.兩節(jié)AA5# 電池可工作250小時. 26MG-XT 包括26MG所有功能, 附加增益閘門,自動靈敏度優(yōu)化和高低報警功能. 26XTDL 將26MG-XT的特征和數據采集功能相結合,配有RS-232數據輸出接口,可與計算機或打印機連接。內置數據存儲器用來記錄厚度讀數,能保存約8000個測量厚度值。 技術規(guī)格26MG26MG－XT26XTDL顯 示 屏液晶顯示 45X20mm 液晶顯示 45X20mm 液晶顯示 45X20mm 測量范圍0.5---500mm0.5---500mm0.5---500mm頻率范圍1MHZ - 15MHZ (-3dB) 1MHZ - 15MHZ (-3dB) 1MHZ - 15MHZ (-3dB) 聲速范圍0.762-13,999mm/μsec 0.762-13,999mm/μsec 0.762-13,999mm/μsec 顯示精度0.1/0.01mm 0.1/0.01mm 0.1/0.01mm 存儲裝置無 無 8000組厚度值波形顯示無 無 無 RF顯示無 無 無 增益閘門無 高/低任選 高/低任選 回波回波測量無 無 無 差分測量無 有 有 高低報警無 有 有 自動關機有 有 有 背光自動/手動(任選) 自動/手動(任選) 自動/手動(任選) 掃描速度2點/標準 20點/快速 2點/標準20點/快速 2點/標準20點/快速 工作溫度-10-50℃ -10-50℃ -10-50℃ 測量溫度-20-500℃ -20-500℃ -20-500℃ 探頭種類雙晶/自動識別 雙晶/自動識別雙晶/自動識別RS232接口選件 選件 有 電 池AA 5＃電池×2 工作250小時 AA 5＃電池×2 工作250小時 AA 5＃電池×2 工作250小時 充 電 器無 無 無 外型尺寸64.8 X 128.5 X 29mm 64.8 X 128.5 X 29mm 64.8 X 128.5 X 29mm 重 量0.24Kg 0.24Kg 0.24Kg
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