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其他產(chǎn)品及廠家

涂鍍層測厚儀MC-2000C
涂層測厚儀mc-2000c儀器特點(diǎn):mc-2000c型涂鍍層測厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù),精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測量、體積小、重量輕;且具有存儲、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、系統(tǒng)校準(zhǔn),其性能達(dá)到當(dāng)代國際同類儀器的水平。
更新時間:2025-01-10
MC-2000D型涂(鍍)層測厚儀  鋼結(jié)構(gòu)防火層測厚儀
mc-2000d型涂(鍍)層測厚儀 鋼結(jié)構(gòu)防火層測厚儀1、測量范圍:  10~9000um2、測量誤差:  <3%±1um3、小示值:  1um4、顯示方式: 4位液晶數(shù)字顯示
更新時間:2025-01-10
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具,硬件測試,ddr測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
更新時間:2025-01-10
ETS-LINDGREN近場探頭,硬件測試,開放實(shí)驗(yàn)室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-01-10
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測試,開放實(shí)驗(yàn)室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-01-10
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯誤,可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-01-10
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當(dāng)幀結(jié)束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時,eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用,該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生
更新時間:2025-01-10
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個data,依次,p3是個data.
更新時間:2025-01-10
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設(shè)定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過軟件,將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時間:2025-01-10
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏 初始化指令問題
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會變差,這個當(dāng)然可以理解,但是從大的方面來說,只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會變好,這樣畫面就比像素低的更加的細(xì)膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-01-10
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時間:2025-01-10
MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題
mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個聯(lián)盟,旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化,減少兼容性問題并簡化設(shè)計(jì)。
更新時間:2025-01-10
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當(dāng)抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中,這些工具只有6-8個測量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道,包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-01-10
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動問題 重起問題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動問題 重起問題
更新時間:2025-01-10
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動問題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題
更新時間:2025-01-10
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動
更新時間:2025-01-10
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
更新時間:2025-01-10
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問題
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-01-10
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時序:
更新時間:2025-01-10
出租Tektronix USB2.0測試夾具
出租tektronix usb2.0測試夾具
更新時間:2025-01-10
羅德與施瓦茨ZN-Z135經(jīng)濟(jì)型網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)套件26.5G
羅德與施瓦茨zn-z135經(jīng)濟(jì)型網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)套件26.5g
更新時間:2025-01-09
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號幅度越來越低,對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-01-09
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求,個是type00h配置請求,另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-01-09
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r代,工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車,每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn),但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
更新時間:2025-01-09
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時,工程師會按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu), ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中,發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時間:2025-01-09
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商,而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
更新時間:2025-01-09
Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真,那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題,如果要改善, 只能再改板調(diào)整,還可能出現(xiàn)改板很多次的情況,這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-01-09
PCIE2.0 3.0 驗(yàn)證 調(diào)試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-01-09
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備,這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-01-09
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時間:2025-01-09
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時,pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2025-01-09
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質(zhì)量一致性測試
pcie 初始化完成后會進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-01-09
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程,在天無時無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時間:2025-01-09
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-01-09
配電柜3C檢測用IP4X試具IP40試驗(yàn)探針I(yè)P4X試驗(yàn)探棒
配電柜3c檢測用ip4x試具/ip40試驗(yàn)探針基本簡介: 1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應(yīng)條款制作而成。2、d類試驗(yàn)探棒(d類試驗(yàn)針)是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時間:2025-01-09
UL試驗(yàn)彎指UL鉸接試驗(yàn)指PA100A試驗(yàn)探棒
ul試驗(yàn)彎指ul鉸接試驗(yàn)指pa100a探棒基本簡介:1、根據(jù)ul1278、ul1026及ul507等相應(yīng)條款制作而成。2、ul試驗(yàn)彎指是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時間:2025-01-09
IPX34花灑式淋雨試驗(yàn)裝置IPX34手持式防淋水濺水試驗(yàn)裝置
ipx34花灑式淋雨試驗(yàn)裝置ipx34手持式防淋水濺水試驗(yàn)裝置 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):符合 iec60529:2001《degrees of protection provided by enclosures(ip code)》、gb4208-2008《外殼防護(hù)等(ip 代碼)》14.2.3、14.2.4 條款與圖 5
更新時間:2025-01-09
IEC61032試驗(yàn)探棒GB4706.1全套試驗(yàn)指標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指
iec61032試驗(yàn)探棒gb4706.1全套試驗(yàn)指基本簡介:1、根據(jù)iec61032、gb4706.1、gb2099.1、 iec60695、ul等相應(yīng)條款制作而成。2、試驗(yàn)探棒是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時間:2025-01-09
兒童試驗(yàn)彎指19號試驗(yàn)探棒試具19
深圳兒童試驗(yàn)彎指/19號試驗(yàn)探棒基本簡介:1、根據(jù)gb4706.1、iec61032-1997及 ul等相應(yīng)條款制作而成。2、19號兒童試驗(yàn)彎指(19號試驗(yàn)探棒)是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時間:2025-01-09
燈頭溫升試驗(yàn)鎳圈E14燈頭溫升試驗(yàn)鎳圈E39溫升試驗(yàn)燈座
燈頭溫升試驗(yàn)鎳圈滿足gb/t24392-2009 和 iec60360:2002相關(guān)燈頭溫升測試標(biāo)準(zhǔn)要求制作而成。成分:ni純度99.6%以上的日本進(jìn)口純鎳;結(jié)構(gòu)和特性: 材料的晶粒應(yīng)精細(xì)且有規(guī)則結(jié)構(gòu),晶粒度:zui小值為astm8(zui大不超過0.019
更新時間:2025-01-09
12.5mm試驗(yàn)探棒IP20C試驗(yàn)探棒12.5試驗(yàn)探球
12.5mm試驗(yàn)探棒|ip20c試驗(yàn)探棒基本簡介:1、根據(jù)din40050等相應(yīng)條款制作而成。2、12.5mm試驗(yàn)探棒是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時間:2025-01-09
IPX56防噴水試驗(yàn)噴頭IPX6強(qiáng)噴水試驗(yàn)裝置
ipx56防噴水試驗(yàn)噴頭/ipx6強(qiáng)噴水試驗(yàn)裝置ipx5防噴水試驗(yàn)噴嘴一、 產(chǎn)品概述:防噴水試驗(yàn)裝置是依據(jù)gb4208的ipx5及ipx6、iec60529等標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)條款要求制作,用于對具有防噴水功能的器具或電器的防水性能進(jìn)行測試
更新時間:2025-01-09
標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指甲測試指甲試驗(yàn)指甲
標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指甲測試指甲 基本簡介:1、根據(jù)gb4706.1-2005、iec60335-1及 ul等標(biāo)準(zhǔn)制作而成。2、試驗(yàn)指甲主要針對電擊或接觸運(yùn)動部件的不可拆卸零件能否經(jīng)受得住正常使用中出現(xiàn)的機(jī)械應(yīng)力,達(dá)到規(guī)定防護(hù)等進(jìn)行測試的設(shè)備。$r
更新時間:2025-01-09
深圳標(biāo)試驗(yàn)指針銷GB4706.1試驗(yàn)指標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指棒銷
標(biāo)試驗(yàn)指針銷gb4706.1試驗(yàn)指基本簡介:1、根據(jù)gb4706.1、gb2099.1及相關(guān) iec、 ul等相應(yīng)條款制作而成。2、標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指針銷是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時間:2025-01-09
彈簧沖擊器IK碰撞能量試驗(yàn)裝置0.5J彈簧沖擊錘
彈簧沖擊器/ik碰撞能量試驗(yàn)裝置 基本簡介:1、根據(jù)iec60068-2-75、gb/t2423.55-2006、gb4706.1、gb8898和gb7000、 iec884及ul1244等相應(yīng)條款制作而成,主要用于檢驗(yàn)家用和類似電器產(chǎn)品的外殼、操作桿、手柄、旋鈕、指示燈等外殼承受機(jī)械沖擊的能。2、本沖擊器外殼采用鋁制作。
更新時間:2025-01-09
插座保護(hù)門試驗(yàn)探針1N試驗(yàn)探針保護(hù)門試驗(yàn)探針
插座保護(hù)門試驗(yàn)探針/1n試驗(yàn)探針基本簡介:1、根據(jù)gb2099.1-2008,gb8898-97及相關(guān) iec等相應(yīng)條款制作而成。2、試驗(yàn)探針是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時間:2025-01-09
IP10試驗(yàn)探棒IP1X試驗(yàn)探球試具A鋼球探棒
ip10試驗(yàn)探棒/ip1x試驗(yàn)探球基本簡介:1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應(yīng)條款制作而成。2、a類試驗(yàn)探棒(a類試驗(yàn)探球)是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時間:2025-01-09
GSC60CN多功能電氣安全電能質(zhì)量綜合分析儀,安規(guī)儀
原裝進(jìn)口產(chǎn)品,觸摸屏操作簡單。由普通電池供電,方便操作現(xiàn)場更換,功能強(qiáng)大,可以測量電能質(zhì)量、連續(xù)性、絕緣電阻、線路/回路阻抗、接地電阻與土壤電阻率、rcd跳閘時間和電流,無跳閘時的接地回路阻抗、接觸電壓ut、相序、泄露電流、環(huán)境參數(shù)等
更新時間:2025-01-09
過濾器完整性測試儀
過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式,可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜,非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測試,同時系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能,并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時間:2025-01-09

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熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑