qrm-microct-barpattern-nano微型ct測(cè)試模體,microct-barpattern-nano納米顯微ct柱狀測(cè)試卡,采用雙硅芯片相互垂直、通過(guò)塑料支架固定的設(shè)計(jì)理念,使兩個(gè)3 x 3 mm²芯片均呈現(xiàn)數(shù)組線狀或點(diǎn)狀圖樣,寬度和直徑從1µm到10µm不等。
jima rt rc-05分辨率測(cè)試卡,x射線分辨率測(cè)試卡,jima(日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)),致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器,其中包括無(wú)損檢測(cè)儀器,jima分辨率測(cè)試卡,用于測(cè)量x射線系統(tǒng)的分辨率,以保證x射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。