表面阻抗分析儀產(chǎn)品及廠家
上海四探針方塊電阻測試儀 、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求 上海四探針方塊電阻測試儀
更新時間:2025-01-07
四探針方阻測試儀操作方法 按照硅片電阻率測量的國際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針 ft-332四探針 四點探針 四探針測試儀
更新時間:2025-01-07
四探針電阻率測試儀,方阻儀 顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率 四探針電阻率測試儀,方阻儀
更新時間:2025-01-07
硅材料測試儀-四探針法測試臺 探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準(zhǔn)確.硅材料測試儀-四探針法測試臺
更新時間:2025-01-07
四點探針測試儀技術(shù)參數(shù)四探針電阻率測試儀 恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便 ft-336四探針電阻率測試儀
更新時間:2025-01-07
ft-341雙電四探針測試儀,雙電四探針電阻率測試儀 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺 ft-341雙電四探針測試儀,雙電四探針電阻率測試儀
更新時間:2025-01-07
ft-343雙電四探針電阻率/方阻測試儀 利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響 ft-343雙電四探針電阻率/方阻測試儀
更新時間:2025-01-07
ft-346雙電測四探針電阻率測試儀 質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示 ft-346雙電測四探針電阻率測試儀
更新時間:2025-01-07
ft-347雙電測電四探針電阻率方阻測試儀 ft-347雙電測電四探針電阻率方阻測試儀,電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
更新時間:2025-01-07
四探針測試儀檢測范圍， 配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購. 四探針測試儀
更新時間:2025-01-07
粉末高阻測試儀,粉體阻抗分析儀 絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如（長方體，圓柱體等是固有形狀）及不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動狀），目前對絕緣體材料的測試方法和測量方式基本上是采用三環(huán)電極結(jié)構(gòu)測量規(guī)則形狀體，而不規(guī)則狀材料的測試較少，本機主要能滿足傳統(tǒng)的電阻測量外，還可以測試不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動狀）材料的電阻和電阻率 粉末高阻測試儀,粉體阻抗分析儀
更新時間:2025-01-07
絕緣粉末電阻率測試儀， 電路結(jié)構(gòu)采用集成電路及高精度芯片控制系統(tǒng)，滿足測試數(shù)據(jù)的高效采集和數(shù)據(jù)的讀取.自動量程轉(zhuǎn)換 絕緣粉末電阻率測試儀
更新時間:2025-01-07
ft-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng) ，爐膛材料：采用復(fù)合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征 usb通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù) ft-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)
更新時間:2025-01-07
四探針電導(dǎo)率測試儀技術(shù)參數(shù)， 比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準(zhǔn)確 四探針電阻率儀
更新時間:2025-01-07
四探針探頭批,發(fā)四探針臺 ， 采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：pc軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.
更新時間:2025-01-07
智能型雙電測四探針測試儀，采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：pc軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.
更新時間:2025-01-07
lx-9831電壓降測試系統(tǒng) 本系統(tǒng)電壓降和接觸電阻是車用電線束插接器在強電流電路和弱電流電路下電性能評定指標(biāo)；在恒定電流狀態(tài)下，通過測試導(dǎo)線壓接和端子接觸區(qū)域的電壓降，還可以獲得接觸電阻數(shù)據(jù)；如果通過模擬環(huán)境試驗測試后的汽車用插接器再進行電壓降測試，數(shù)據(jù)能更真實反映產(chǎn)品本身的特性；適用于科研院所、企業(yè)研發(fā)、進料檢驗和質(zhì)量中心等技術(shù)部門提供更加精準(zhǔn)和可靠的數(shù)據(jù)保證 lx-9831電壓降測試系統(tǒng)
更新時間:2025-01-07
電線束插接器壓降測試系統(tǒng)批發(fā),通過電流、電壓和時間，來檢測電線束插接器電壓降、接觸電阻和溫升變化關(guān)系，是汽車用插接器的主要電氣性能指標(biāo)，它直接影響汽車各電氣設(shè)備的信號傳輸和電氣連接，以及電氣設(shè)備的工作穩(wěn)定性和可靠性；不良的接觸電阻和壓降是汽車用插接器工作時產(chǎn)生溫升的主要原因。降低接觸電阻可有效控制溫升，從而提高插接器壽命和性能.
更新時間:2025-01-07
端子壓降測試系統(tǒng),電線束壓降測試系統(tǒng) 本系統(tǒng)采用集成電路及高精度芯片控制，通過測量接觸電阻、電壓降及溫升等數(shù)據(jù)來檢測電線束插接器的電性能，恒流源供給更加穩(wěn)定的輸出，大液晶顯示屏幕更加直觀，各類參數(shù)和功能設(shè)定通過薄膜面板實現(xiàn)，人性化設(shè)計符合人體工學(xué)原理，提供usb、232、485通訊接口；可以連接打印機、電腦和其他外接控制單元，配置pc軟件可以獲得更多過程數(shù)據(jù)，測試報表處理、存儲和數(shù)據(jù)分析有助于產(chǎn)
更新時間:2025-01-07
采用高精度恒流恒壓源，自動量程，無需手動調(diào)節(jié)和設(shè)定。大液晶屏幕顯示，所有測試數(shù)據(jù)和設(shè)定數(shù)據(jù)均可顯示，當(dāng)選擇經(jīng)濟型手動測量裝置匹配時能直觀的查看數(shù)據(jù)；如果在條件許可下可以選擇自動測量裝置將獲得更高精確的重復(fù)性數(shù)據(jù)和消除操作誤差帶來的不確定性。
更新時間:2025-01-07
隔熱導(dǎo)電膜四探針電阻率測試儀，本品為解決四探針法測試超高阻值材料方阻及電阻率，最大可以測試到1010ω方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的最大方阻值，此儀器是瑞柯新品，主要用于測超高阻。
更新時間:2025-01-07
本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時間:2025-01-07
本品為解決四探針法測試超高阻值材料方阻及電阻率，最大可以測試到1010ω方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的最大方阻值，選購：本機還可以配合各類環(huán)境溫度試驗箱體使用，通過不同的測量治具滿足不同環(huán)境溫度下測量方阻和電阻率的需求.采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
更新時間:2025-01-07
液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時間:2025-01-07
直流恒流源輸出系統(tǒng)結(jié)合集成電路及高精度芯片控制，大液晶顯示屏幕更加直觀，直讀電阻，電壓降，電阻率，高精度的測試量程；各類參數(shù)和功能設(shè)定通過薄膜面板實現(xiàn)，人性化設(shè)計符合人體工學(xué)原理，提供usb、232、485通訊接口；可以連接打印機、電腦和其他外接控制單元。
更新時間:2025-01-07
金屬薄膜四探針電阻率測試儀驗證流程,適用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試,電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料.
更新時間:2025-01-07
loesta ax 低電阻率計是一種手持儀器，測量具有一致精度樣品的低電阻率。該電阻率計使用各種探頭測量電阻率。loesta ax使用一個標(biāo)準(zhǔn)的rcf，如果已知的話，用戶也可以輸入其他rcf。它通常用于產(chǎn)品工程和質(zhì)量控制。應(yīng)用域包括導(dǎo)電涂料、導(dǎo)電塑料、導(dǎo)電橡膠、導(dǎo)電薄膜、抗靜電材料、emi屏蔽材料、導(dǎo)電纖維、導(dǎo)電陶瓷等。
更新時間:2025-01-07
高溫四探針電阻率測試儀功能介紹：液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：
更新時間:2025-01-07
四探針方阻電阻率測試儀，使用方便；配備軟件電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
更新時間:2025-01-07
ft-353絕緣材料高溫表面電阻測試儀適用范圍：適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-01-07
硅片高溫方阻測試儀 廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ito）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù) 硅片高溫方阻測試儀
更新時間:2025-01-07
浙江高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)廠家直銷 液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表； 浙江高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)廠家直銷
更新時間:2025-01-07
直流低電阻測試儀性能特點:5位led顯示，穩(wěn)定性好。最小的分辨率：1μω直讀值與百分比誤差顯示、上超、下超、合格分選及訊響功能提供rs-232c接口及handler接口（選配）
更新時間:2025-01-07
智能粉末電阻率測試儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關(guān)面板，操作簡單，耐用，符合人體工學(xué)操作規(guī)范
更新時間:2025-01-07
四探針電阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
更新時間:2025-01-07
寧波半導(dǎo)體電阻率測試儀 按照硅片電阻率測量的國際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。
更新時間:2025-01-07
負極材料粉末電阻率測試儀 滿足：yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法 第6部分 粉末電阻率的測定；本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
更新時間:2025-01-07
導(dǎo)電材料電阻率測試儀采用四端測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實驗室是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電阻率。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時間:2025-01-07
多功能材料電阻率測試儀適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實驗室是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電阻率。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置
更新時間:2025-01-07
通用型粉末電阻率測試儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關(guān)面板，操作簡單，耐用，符合人體工學(xué)操作規(guī)范.
更新時間:2025-01-07
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試儀適用標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與國際標(biāo)準(zhǔn)iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》.
更新時間:2025-01-07
導(dǎo)體材料高溫電阻率測試儀廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測量.同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.
更新時間:2025-01-07
材料低電阻率測試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)： gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.
更新時間:2025-01-07
雙電測電四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時間:2025-01-07
四探針方阻儀按照硅片電阻率測量的國際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)，本機配置232電腦接口及usb兩種接口.
更新時間:2025-01-07
方塊電阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn).
更新時間:2025-01-07
薄膜方阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
更新時間:2025-01-07
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