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測(cè)厚儀產(chǎn)品及廠家

【EXPLORER5000T手持式鍍銀測(cè)厚儀】?jī)r(jià)格_廠家
【explorer5000t手持式鍍銀測(cè)厚儀】?jī)r(jià)格_廠家是天瑞儀器結(jié)合10年手持便攜式研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，集中了光電子、微電子、半導(dǎo)體和計(jì)算機(jī)等多項(xiàng)技術(shù)，研制出具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的，全新一代手持xrf產(chǎn)品。explorer5000t手持式鍍銀測(cè)厚儀是*使用全新大屏高分辨率液晶顯示屏及*數(shù)字多道數(shù)據(jù)處理器的便攜式手持合金分析儀。
更新時(shí)間:2025-01-14
手持式鍍銀層測(cè)厚儀
手持式鍍銀層測(cè)厚儀主要優(yōu)點(diǎn)在變電系統(tǒng)中，高壓隔離開關(guān)主要用于高壓線路無負(fù)載換接、以及對(duì)被檢修的高壓母線、斷路器等電氣設(shè)備與帶電高壓線路之間的電氣隔離，是電力系統(tǒng)中使用范圍*為廣泛的高壓開關(guān)設(shè)備。依據(jù)1，它是目市場(chǎng)上*一款超大屏幕的測(cè)試儀器，屏幕5寸；
更新時(shí)間:2025-01-14
x-ray鍍層測(cè)厚儀器
x-ray鍍層測(cè)厚儀器滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)x-ray鍍層測(cè)厚儀器任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
更新時(shí)間:2025-01-14
天瑞原廠X-ray鍍層測(cè)厚儀THICK800A
天瑞原廠x-ray鍍層測(cè)厚儀thick800a移動(dòng)采樣平臺(tái)，探測(cè)器和x射線管上下移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)3d移動(dòng)。該產(chǎn)品具有國(guó)際技術(shù)水平，x射線熒光光譜儀系列產(chǎn)品被公認(rèn)為國(guó)家重點(diǎn)新產(chǎn)品和江蘇省高新技術(shù)產(chǎn)品。厚800a是天瑞工廠的x射線涂層厚度計(jì)，為客戶提供了更先進(jìn)的產(chǎn)品和更滿意的服務(wù)，也為電子、電子、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、采礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等行業(yè)提供了更完整的解決方案。
更新時(shí)間:2025-01-14
xrf便攜式熒光分析儀國(guó)產(chǎn)企業(yè)
xrf便攜式熒光分析儀該商品可做為鋁合金，鈦合金等有色金屬合金篩分的用工具，根據(jù)了嚴(yán)苛檢測(cè)和認(rèn)證，各類指標(biāo)值均合乎有關(guān)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，技術(shù)性達(dá)國(guó)際性優(yōu)秀水準(zhǔn)。小輸出功率端窗一體化小型光管、大規(guī)模鈹窗sdd硅飄移探測(cè)儀（全的探測(cè)儀）及小型模擬信號(hào)多道cpu三大技術(shù)性的引進(jìn)，大幅度減少測(cè)試時(shí)間、提升檢測(cè)、降低測(cè)試偏差，使手持式儀器設(shè)備具備與臺(tái)式一體機(jī)相仿的測(cè)試特性。
更新時(shí)間:2025-01-14
xrf便攜式X熒光分析儀
xrf便攜式x熒光分析儀小輸出功率端窗一體化小型光管、大規(guī)模鈹窗硅飄移探測(cè)儀（全的探測(cè)儀）及小型模擬信號(hào)多道cpu三大技術(shù)性的引進(jìn)，大幅度減少檢測(cè)時(shí)間、提升檢測(cè)、降低檢測(cè)偏差，使便攜式儀器設(shè)備具備與臺(tái)式一體機(jī)相仿的檢測(cè)特性。
更新時(shí)間:2025-01-14
XRF鍍層測(cè)厚儀天瑞儀器
xrf鍍層測(cè)厚儀天瑞儀器thick800a是天瑞集很多年的工作經(jīng)驗(yàn)，業(yè)產(chǎn)品研發(fā)用以涂層域的一款儀器設(shè)備，可全自動(dòng)軟件實(shí)際操作，可多一點(diǎn)檢測(cè)，由手機(jī)軟件操縱儀器設(shè)備的測(cè)試用例，及其移動(dòng)應(yīng)用平臺(tái)。xrf鍍層測(cè)厚儀精準(zhǔn)定位激光器明確精準(zhǔn)定位光點(diǎn)，保證測(cè)試用例與光點(diǎn)兩端對(duì)齊
更新時(shí)間:2025-01-14
X射線光譜測(cè)厚儀
x射線光譜測(cè)厚儀thick800a是一款運(yùn)用普遍的能量色散型x射線熒光分析儀，應(yīng)用大鈹窗纖薄對(duì)話框高像素的sdd探測(cè)儀，其探測(cè)儀屏幕分辨率為139ev，處在國(guó)際性優(yōu)秀水準(zhǔn)；樣品觀查系統(tǒng)軟件選用ccd監(jiān)控?cái)z像頭、數(shù)據(jù)多道解析器、激光器精準(zhǔn)定位及其自主研發(fā)的用型測(cè)厚分析系統(tǒng)，各類指標(biāo)值均合乎有關(guān)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，技術(shù)性達(dá)國(guó)際性優(yōu)秀水準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2025-01-14
國(guó)產(chǎn)X-RAY鍍層測(cè)厚儀廠家
x-ray鍍層測(cè)厚儀天瑞儀器股權(quán)有限責(zé)任公司（深圳市,江蘇。┚哦⻊傞_始做光譜分析儀，在x熒光分析儀行業(yè)，一直維持中國(guó)*；湖北省易實(shí)際操作的鍍層測(cè)厚儀,渦旋測(cè)量基本原理高頻率溝通交流數(shù)據(jù)信號(hào)在測(cè)頭電磁線圈中造成磁場(chǎng)，測(cè)頭挨近電導(dǎo)體時(shí)，就在這其中產(chǎn)生渦旋。
更新時(shí)間:2025-01-14
X射金屬材料鍍層膜厚儀
x射金屬材料鍍層膜厚儀考慮各種各樣不一樣薄厚試品及其不規(guī)律表層試品的檢測(cè)要求高精密移動(dòng)應(yīng)用平臺(tái)可精確精準(zhǔn)定位測(cè)試用例，反復(fù)精度等低于0005毫米精準(zhǔn)定位激光器明確精準(zhǔn)定位光點(diǎn)，保證測(cè)試用例與光點(diǎn)兩端對(duì)齊
更新時(shí)間:2025-01-14
X射線瑩光鍍層測(cè)厚儀
x射線瑩光鍍層測(cè)厚儀考慮各種各樣不一樣薄厚試品及其不規(guī)律表層試品的檢測(cè)要求高精密移動(dòng)應(yīng)用平臺(tái)可精確精準(zhǔn)定位測(cè)試用例，反復(fù)精度等低于0005毫米精準(zhǔn)定位激光器明確精準(zhǔn)定位光點(diǎn)，保證測(cè)試用例與光點(diǎn)兩端對(duì)齊
更新時(shí)間:2025-01-14
X射線鍍層測(cè)厚儀國(guó)產(chǎn)廠家
x射線鍍層測(cè)厚儀國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠家信號(hào)檢測(cè)電子線路高壓低壓開關(guān)電源x光管高度感應(yīng)器維護(hù)感應(yīng)器
更新時(shí)間:2025-01-14
無損XRF膜厚測(cè)試儀
無損xrf膜厚測(cè)試儀thick800a是天瑞集團(tuán)多年研發(fā)的一款電鍍行業(yè)用儀器，可全自動(dòng)軟件操作、多點(diǎn)測(cè)試、用軟件控制儀器的測(cè)點(diǎn)、移動(dòng)平臺(tái)等。高精度二維移動(dòng)采樣平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下移動(dòng)實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
更新時(shí)間:2025-01-14
電鍍X-RAY鍍層測(cè)厚儀
電鍍x-ray鍍層測(cè)厚儀適用于鍍銀、鎳、金、鋅等各種金屬，廣泛用于電子電器、高壓開關(guān)、國(guó)家電網(wǎng)和汽車配件。x-ray電鍍層厚度測(cè)試儀任意多種可選分析與識(shí)別模式。薄膜厚度測(cè)試儀廣泛用于pcb、電子、五金、印刷電路、半導(dǎo)體芯、機(jī)架和連接器等企業(yè)，以及對(duì)金屬鍍層厚度、鍍液及鍍層含量、金、鉑、銀等貴金屬及各種飾的含量進(jìn)行檢測(cè)。
更新時(shí)間:2025-01-14
x射線熒光測(cè)厚儀天瑞儀器總部直銷
x射線熒光測(cè)厚儀產(chǎn)品。國(guó)產(chǎn)x射線熒光測(cè)厚儀是天瑞公司多年研制開發(fā)的一種金屬鍍層檢測(cè)儀器，配有移動(dòng)平臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)軟件全自動(dòng)化操作，可進(jìn)行多點(diǎn)檢測(cè)。用定位激光器定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑一致。下面用thick800ax射線熒光鍍層計(jì)對(duì)銅鍍鎳樣品進(jìn)行了ni層厚度的實(shí)際測(cè)試，得到了七次的標(biāo)準(zhǔn)差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)差。
更新時(shí)間:2025-01-14
X射線光譜測(cè)厚儀國(guó)內(nèi)廠家
x射線光譜測(cè)厚儀國(guó)內(nèi)廠家thick800a技術(shù)性指標(biāo)模型：thick800a。從硫(s)到鈾(u)都有元素分析。可同時(shí)分析30多種元素，鍍有五層。測(cè)定含量通常在ppm至99.9%。x射線光譜儀的鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料不同)
更新時(shí)間:2025-01-14
X熒光膜厚檢測(cè)儀器
x熒光膜厚檢測(cè)儀器edx 600 plus是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn)，門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)？蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空**、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等域。
更新時(shí)間:2025-01-14
電鍍鍍鋅層厚度測(cè)試儀
電鍍鍍鋅層厚度測(cè)試儀每次開機(jī)后，儀器都必須先預(yù)熱30分鐘，然后進(jìn)行初始化，方可進(jìn)行正常的檢測(cè)工作。測(cè)量不同類型的樣品時(shí)，需從程序欄中選擇其對(duì)應(yīng)的選項(xiàng)，才能保證的測(cè)量效果。為使儀器能長(zhǎng)期保持工作正常，需定期對(duì)儀器的各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，并進(jìn)行調(diào)整。
更新時(shí)間:2025-01-14
鍍鎳涂層測(cè)厚儀
edx 600 plus鍍鎳涂層測(cè)厚儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn)，門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè)。
更新時(shí)間:2025-01-14
接插件鍍層測(cè)試儀
接插件鍍層測(cè)試儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn)，門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行**檢測(cè)。
更新時(shí)間:2025-01-14
鍍層X射線測(cè)厚儀
鍍層x射線測(cè)厚儀可視化操作大樣品腔 415（w）×374（d）×218（h）mm500萬高清usb3.0變焦工業(yè)攝像頭任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
更新時(shí)間:2025-01-14
晶圓鍍層厚度檢測(cè)儀
晶圓鍍層厚度檢測(cè)儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù)，門研發(fā)的一款上照式膜厚測(cè)試儀。相比于傳統(tǒng)的鍍層測(cè)厚設(shè)備，不僅在常規(guī)的傳統(tǒng)電鍍上表現(xiàn)更加顯現(xiàn)，更能很好地滿足半導(dǎo)體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。儀器外觀簡(jiǎn)潔大方，通過自動(dòng)化的x軸丫軸z軸的三維移動(dòng)，雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦準(zhǔn)確分析。
更新時(shí)間:2025-01-14
防腐涂層硅鋁鎳鎘測(cè)厚儀
防腐涂層硅鋁鎳鎘測(cè)厚儀采用進(jìn)口高分辨率的fast sdd探測(cè)器，高達(dá)140ev分辨率，能精準(zhǔn)地解析每個(gè)元素的特征信號(hào)，針對(duì)復(fù)雜底材以及多層復(fù)雜鍍層，優(yōu)勢(shì)巨大。
更新時(shí)間:2025-01-14
鎳銅鎳測(cè)厚儀
鎳銅鎳測(cè)厚儀采用進(jìn)口高分辨率的fast sdd探測(cè)器，高達(dá)140ev分辨率，能精準(zhǔn)地解析每個(gè)元素的特征信號(hào)，針對(duì)復(fù)雜底材以及多層復(fù)雜鍍層，優(yōu)勢(shì)巨大。
更新時(shí)間:2025-01-14
鍍鋅層X光管厚度測(cè)試儀
鍍鋅層x光管厚度測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：thick800a系列鍍鋅層x光管厚度測(cè)試儀能夠測(cè)量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測(cè)量點(diǎn)小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。thick800a系列采用開槽式樣品室，它可提供三種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別為： 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：xy軸手動(dòng)控制、z軸自動(dòng)控制。
更新時(shí)間:2025-01-14
鍍鎳層X射線厚度檢測(cè)儀
鍍鎳層x射線厚度檢測(cè)儀分析元素范圍：從硫（s）到鈾（u） 同時(shí)檢測(cè)元素：多24個(gè)元素，多達(dá)五層鍍層檢出限：可達(dá)2ppm，薄可測(cè)試0.005μm分析含量：一般為2ppm到99.9% 國(guó)產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復(fù)性：可達(dá)0.1%穩(wěn)定性：可達(dá)0.1%
更新時(shí)間:2025-01-14
飾金屬表面厚度測(cè)試儀
飾金屬表面厚度測(cè)試儀元素分析范圍從硫（s）到鈾（u）中間的任意金屬鍍層 可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層薄可測(cè)試0.005μm分析含量一般為2ppm到99.9% 鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
更新時(shí)間:2025-01-14
電鍍行業(yè)金屬表面厚度檢測(cè)儀
電鍍行業(yè)金屬表面厚度檢測(cè)儀外形特點(diǎn)：● 儀器結(jié)構(gòu)采用人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，儀器兩側(cè)按成人手臂長(zhǎng)度設(shè)計(jì)，方便移動(dòng)、搬運(yùn)！ 上蓋傾斜6度角，寓意對(duì)客戶的尊重。
更新時(shí)間:2025-01-14
X射線熒光鍍層Thick800A測(cè)厚儀
x射線熒光鍍層thick800a測(cè)厚儀元素分析范圍從硫（s）到鈾（u）中間的任意金屬鍍層 可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層薄可測(cè)試0.005μm分析含量一般為2ppm到99.9% 鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
更新時(shí)間:2025-01-14
鍍鎳層厚度分析儀
鍍鎳層厚度分析儀滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求小φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求高移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位小于0.005mm采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
更新時(shí)間:2025-01-14
鍍鎳層膜厚儀
高移動(dòng)平臺(tái)可準(zhǔn)確定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位小于0.005mm采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度鍍鎳層膜厚儀滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求較小φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
更新時(shí)間:2025-01-14
鍍錫層厚度檢測(cè)儀
由于電鍍?cè)，這些金屬是不能完全變成我們所需要的鍍層，其中有相當(dāng)部分將變成污染物存在于電鍍廢水中、污泥中，也有部分氣化形成有害氣體，形成對(duì)環(huán)境的重金屬污染。為了滿足電鍍行業(yè)污染物重金屬的測(cè)試天瑞儀器有限公司特別推出thick800a鍍錫層厚度檢測(cè)儀
更新時(shí)間:2025-01-14
x-ray電鍍層厚度分析儀
x-ray電鍍層厚度分析儀滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求小φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求高移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位小于0.005mm采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
更新時(shí)間:2025-01-14
五層金屬含量鍍金層厚度檢測(cè)儀
thick 800a五層金屬含量鍍金層厚度檢測(cè)儀是門針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型高端儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè)。
更新時(shí)間:2025-01-14
銅鍍鎳測(cè)厚儀
edx 600 plus銅鍍鎳測(cè)厚儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn)，門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等域。
更新時(shí)間:2025-01-14
銅鍍化學(xué)鎳厚度檢測(cè)儀
銅鍍化學(xué)鎳厚度檢測(cè)儀采用高分辨率的sdd探測(cè)器，分辨率高達(dá)140ev進(jìn)口的大功率高壓，讓ag,sn等鍍層的測(cè)量能更加穩(wěn)定。配備微聚焦的x光管，猶如給發(fā)動(dòng)機(jī)增加了渦輪增壓，讓數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性更上層樓。多種準(zhǔn)直器可搭配選擇：0.1*0.2mm；φ0.15mm;φ0.2mm；φ0.3mm。貼心打造出適合您的那一款。
更新時(shí)間:2025-01-14
銅上鍍鎳金測(cè)厚儀
銅上鍍鎳金測(cè)厚儀采用高分辨率的sdd探測(cè)器，分辨率高達(dá)140ev進(jìn)口的大功率高壓，讓ag,sn等鍍層的測(cè)量能更加穩(wěn)定。配備微聚焦的x光管，猶如給發(fā)動(dòng)機(jī)增加了渦輪增壓，讓數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性更上層樓。
更新時(shí)間:2025-01-14
金厚測(cè)量光譜儀
金厚測(cè)量光譜儀開放式樣品腔。精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。si-pin探測(cè)器。信號(hào)檢測(cè)電子電路。
更新時(shí)間:2025-01-14
金厚測(cè)試儀
性能特點(diǎn)金厚測(cè)試儀滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求高移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位小于0.005mm采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
更新時(shí)間:2025-01-14
金鎳厚度測(cè)試儀
金鎳厚度測(cè)試儀滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求高移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位小于0.005mm采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
更新時(shí)間:2025-01-14
x射線金厚測(cè)試儀
雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。x射線金厚測(cè)試儀信號(hào)檢測(cè)電子電路。高低壓電源。x光管。高度傳感器保護(hù)傳感器計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
更新時(shí)間:2025-01-14
X-RAY化金厚度檢測(cè)儀
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求高移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位小于0.005mmx-ray化金厚度檢測(cè)儀采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
更新時(shí)間:2025-01-14
PCB鎳厚測(cè)試儀
pcb鎳厚測(cè)試儀開放式樣品腔。精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時(shí)間:2025-01-14
金層膜厚儀
金層膜厚儀型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
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金涂層測(cè)厚儀
金涂層測(cè)厚儀開放式樣品腔。精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。信號(hào)檢測(cè)電子電路。
更新時(shí)間:2025-01-14
鍍銅鎳金線路板膜厚測(cè)試儀
鍍銅鎳金線路板膜厚測(cè)試儀精密的三維移動(dòng)平臺(tái)卓越的樣品觀測(cè)系統(tǒng)先進(jìn)的圖像識(shí)別 輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè)四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動(dòng)切換
更新時(shí)間:2025-01-14
pcb板厚測(cè)量?jī)x
pcb板厚測(cè)量?jī)x分析元素范圍：從硫（s）到鈾（u） 同時(shí)檢測(cè)元素：多24個(gè)元素，多達(dá)五層鍍層檢出限：可達(dá)2ppm，薄可測(cè)試0.005μm分析含量：一般為2ppm到99.9%
更新時(shí)間:2025-01-14
X-Ray膜厚測(cè)試儀
x-ray膜厚測(cè)試儀針對(duì)不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測(cè)試點(diǎn)分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求；配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)對(duì)多鍍層樣品的分析；內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶觀測(cè)樣品狀態(tài)；
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半導(dǎo)體鍍膜膜厚測(cè)量?jī)x
應(yīng)用優(yōu)勢(shì)半導(dǎo)體鍍膜膜厚測(cè)量?jī)x針對(duì)不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測(cè)試點(diǎn)分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求；配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)對(duì)多鍍層樣品的分析；
更新時(shí)間:2025-01-14
智能型鍍層膜厚測(cè)試儀
智能型鍍層膜厚測(cè)試儀任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。相互立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。電源: 交流220v±5v, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。外觀尺寸： 576(w)×495(d)×545(h) mm樣品室尺寸：500(w)×350(d)×140(h) mm重量：90kg
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最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑