掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家
phenom(飛納) g2 pure（飛納臺(tái)式掃描電鏡 標(biāo)準(zhǔn)版） 款性能和價(jià)格介于光學(xué)顯微鏡和傳統(tǒng)大電鏡之間的經(jīng)濟(jì)型臺(tái)式掃描電鏡，可用于測(cè)量亞微米尺寸的樣品。phenom g2 pure 適用于傳統(tǒng)大電鏡待測(cè)樣品的快速篩選，也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無(wú)法滿足需求的客戶。
更新時(shí)間:2025-01-21
phenom prox （飛納臺(tái)式掃描電鏡 能譜版）是phenom第三代產(chǎn)品，結(jié)合了表面成像功能和元素分析能譜eds功能，能譜儀 eds的可以準(zhǔn)確的進(jìn)行樣品表面元素的定性和定量分析。
更新時(shí)間:2025-01-21
nanoanalysis系統(tǒng)由evex mini-sem，mini-sem，qdd先進(jìn)的探測(cè)器技術(shù)和nanoanalysis軟件組成。mini-sem是具有高清度，高放大率，高性能的臺(tái)式掃描電子顯微鏡。mini-sem結(jié)合了傳統(tǒng)sem的性能，但在大小，price和易操作方面超越了臺(tái)式顯微鏡。
更新時(shí)間:2025-01-21
table-sem (臺(tái)式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬(wàn)倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲(chǔ)存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時(shí)間:2025-01-20
sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對(duì)工廠和實(shí)驗(yàn)室配置的一款高端掃描電鏡.
更新時(shí)間:2025-01-20
table-sem (臺(tái)式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬(wàn)倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲(chǔ)存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時(shí)間:2025-01-20
在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)域里，從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。sem用途日益擴(kuò)大，但對(duì)于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺(tái)能對(duì)應(yīng)的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時(shí)需要進(jìn)行切割等加工。因此，對(duì)超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細(xì)形貌和進(jìn)行各種分析則成為重要的課題。
更新時(shí)間:2025-01-20
此次推出的su7000采用全新設(shè)計(jì)的探測(cè)器，使得對(duì)二次電子信號(hào)、背散射電子信號(hào)的檢測(cè)以及分離能力大大提升。
更新時(shí)間:2025-01-20
“tm4000”和“tm4000plus”可簡(jiǎn)化從樣品觀察、圖像確認(rèn)到生成報(bào)告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報(bào)告生成功能，觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報(bào)告。此外，選配項(xiàng)還可實(shí)現(xiàn)更多功能？稍跇悠穫}(cāng)內(nèi)加裝光學(xué)相機(jī)來(lái)拍攝照片，以往通過經(jīng)驗(yàn)尋找目標(biāo)位置*1，現(xiàn)在可
更新時(shí)間:2025-01-20
“regulus系列“是日立高新技術(shù)的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機(jī)型開發(fā)的 “regulus8100“ 以及su8200系列的升 “regulus8220“ “regulus8230“ “regulus8240“，共4個(gè)機(jī)型，均實(shí)現(xiàn)了分辨率和操作性的強(qiáng)化。
更新時(shí)間:2025-01-20
fe-sem獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對(duì)簡(jiǎn)單，并且它可以觀察、測(cè)量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等域。
更新時(shí)間:2025-01-20
fe-sem獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對(duì)簡(jiǎn)單，并且它可以觀察、測(cè)量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等域。近年來(lái)，以materials integration為代表，其應(yīng)用域及用途在不斷擴(kuò)展，短時(shí)間內(nèi)獲取大量數(shù)據(jù)，減輕作業(yè)負(fù)荷成為市場(chǎng)的一大需求。
更新時(shí)間:2025-01-20
日立高新超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000是門為電子束敏感樣品和需大300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀察的先進(jìn)半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-01-20
上海祥樹歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司成立于1999年，經(jīng)過多年的努力與良好的信譽(yù)度，公司與國(guó)際機(jī)電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個(gè)穩(wěn)定而高效的全球化國(guó)際供應(yīng)鏈體系，竭盡全力為客戶提供服務(wù)。
更新時(shí)間:2025-01-20
上海祥樹歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司成立于1999年，經(jīng)過多年的努力與良好的信譽(yù)度，公司與國(guó)際機(jī)電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個(gè)穩(wěn)定而高效的全球化國(guó)際供應(yīng)鏈體系，竭盡全力為客戶提供服務(wù)。
更新時(shí)間:2025-01-20
上海祥樹歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司是中國(guó)工業(yè)控制自動(dòng)化域的服務(wù)貿(mào)易商，設(shè)有德國(guó)分公司,致力于為國(guó)內(nèi)客戶提供優(yōu)質(zhì)低價(jià)的德國(guó)及歐洲生產(chǎn)的各類工控自動(dòng)化產(chǎn)品、儀器儀表、備品備件等。通過德國(guó)分公司在歐洲范圍內(nèi)采購(gòu),每周日由德國(guó)分公司拼單發(fā)貨并集中辦理進(jìn)口手續(xù),為您節(jié)省運(yùn)費(fèi)和清關(guān)等費(fèi)用;每周至少空運(yùn)發(fā)貨次,為您縮短貨期;可以人民幣,美金或歐元價(jià)成交,給您多樣化的選擇。 我們期待與您共同開創(chuàng)美好的明天！
更新時(shí)間:2025-01-20
上海祥樹歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司成立于1999年，經(jīng)過多年的努力與良好的信譽(yù)度，公司與國(guó)際機(jī)電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個(gè)穩(wěn)定而高效的全球化國(guó)際供應(yīng)鏈體系，竭真探頭盡全力為客戶提供服務(wù)。
更新時(shí)間:2025-01-20
ui新一代的mira場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來(lái)了zui新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)（如改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像過程更快，快速掃描系統(tǒng)包括了動(dòng)態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償，有內(nèi)置的編程軟件等），同時(shí)保持著zui高的性價(jià)比。mira3的設(shè)計(jì)適用于各種各樣的sem應(yīng)用及當(dāng)今研究和產(chǎn)業(yè)的需求。大電子束流下的高分辨率有利于分析應(yīng)用，例如：ebsd、wdx等分析。mira3場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可配置lm、xm或gm三種樣品室。
更新時(shí)間:2025-01-19
vega系列的設(shè)計(jì)適合各種sem應(yīng)用及當(dāng)今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展，tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。新一代的vega給用戶帶了zui新的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，包括改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像速度更快，包含了靜態(tài)和動(dòng)態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償技術(shù)的超快掃描系統(tǒng)，內(nèi)置的編程軟件等，使vega系列產(chǎn)品保持著非常高的性價(jià)比。
更新時(shí)間:2025-01-19
sem掃描電鏡，臺(tái)式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來(lái)觀測(cè)及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)材料、太陽(yáng)能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時(shí)間:2025-01-17
sem掃描電鏡，臺(tái)式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來(lái)觀測(cè)及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)材料、太陽(yáng)能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時(shí)間:2025-01-17
德國(guó)ksi i-wafer型全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測(cè)下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測(cè)
更新時(shí)間:2025-01-17
ksi i-ingot型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng),適用于對(duì)晶錠的無(wú)損檢測(cè)，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測(cè)，晶錠的尺寸可達(dá)450mm，檢測(cè)時(shí)間短，也不需要做其它設(shè)定。
更新時(shí)間:2025-01-17
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時(shí)間:2025-01-17
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)，同時(shí)使用2只換能器
更新時(shí)間:2025-01-17
德國(guó)zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時(shí)間:2025-01-17
jsm-it800shl 是日本電子株式會(huì)社（jeol） 2020 年新推出的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時(shí)將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計(jì)的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時(shí)完成，而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時(shí)間:2025-01-17
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺(tái)搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時(shí)獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報(bào)告等。
更新時(shí)間:2025-01-17
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報(bào)告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時(shí)間:2025-01-17
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時(shí)間長(zhǎng)，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時(shí)間:2025-01-17
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對(duì)樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對(duì)不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時(shí)間:2025-01-17
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺(tái)，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:2025-01-17
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺(tái)，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:2025-01-17
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時(shí)間:2025-01-17
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測(cè)，并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時(shí)間:2025-01-17
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測(cè)器，組合使用wds和eds，能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時(shí)間:2025-01-17
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對(duì)樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評(píng)估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時(shí)間:2025-01-17
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級(jí)混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測(cè)器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時(shí)間:2025-01-17
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡(jiǎn)便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時(shí)間:2025-01-17
德neaspec真空太赫茲波段近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國(guó)neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計(jì)優(yōu)勢(shì)，采用專利保護(hù)的雙光路設(shè)計(jì)，完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測(cè)量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時(shí)，由于采用0.1-3thz波段的時(shí)域太赫茲光源（thz-tds），也可以實(shí)現(xiàn)近場(chǎng)太赫茲成像和圖譜的同時(shí)測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-01-17
thz-neasnom太赫茲近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡 -30nm光學(xué)信號(hào)空間分辨率
更新時(shí)間:2025-01-17
陰極/發(fā)射器既有標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，也有定制設(shè)計(jì)，應(yīng)用包括電子顯微鏡、光刻、x射線生成、自由電子激光器、電子加速器等。
更新時(shí)間:2025-01-15
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測(cè)器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng)，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時(shí)間:2025-01-15
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡(jiǎn)單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測(cè)器和背散射電子探測(cè)器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時(shí)具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺(tái)可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時(shí)間:2025-01-15
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測(cè)器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng)，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時(shí)間:2025-01-15
徠卡顯微鏡 dm2000 & dm2000 ledleica dm2000 & dm2000 led - 生物，醫(yī)療顯微鏡 生物，醫(yī)療顯微鏡 leica dm2000顯微鏡具有高模塊設(shè)計(jì) 和 高性能的熒光 ，因此可理想地用于 病理學(xué)、細(xì)胞學(xué) ，以及其它復(fù)雜工作域。 為了滿足不同使用域的要求，leica dm2000可以配備 各種光學(xué)和對(duì)比度技術(shù) 。
更新時(shí)間:2025-01-15
日本東亞電波離子層析儀(離子色譜儀)本體裝置和數(shù)據(jù)處理裝置之間的通信，如導(dǎo)入lan的設(shè)施，可作遠(yuǎn)距操作。擁有優(yōu)越的擴(kuò)張性、如增設(shè)pump、檢出器等的單元，可對(duì)應(yīng)陰離子、陽(yáng)離子2ch的同時(shí)分析。依抑制因子系統(tǒng)可
更新時(shí)間:2025-01-15
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