JCI 155v5 用于測試材料的靜電衰減時間和電容負荷可直接將JCI 155v5 放置在測試材料上測量測量范圍: 50毫秒-28小時測試反應時間: 10毫秒測試電壓(電暈放電): 3-10kV(可以選擇正負極性)可檢測初始電壓降到5%-99%的衰減時間同時測量環(huán)境溫濕度特別設計氣閘效應, 消除殘留空氣離子干擾高精度靜電壓測試探頭采用配套JCI176樣品臺可測量轉(zhuǎn)移到測試料樣上的電量, 并計算出電容負荷采用配套JCI173樣品杯可以測量粉體和液體的靜電衰減期配套JCI-Graph軟件在電腦中儲存分析數(shù)據(jù),衰減曲線和形成報告
JCI 155 靜電衰減測試儀由英國Chilworth集團下的John Chubb Instrumentation(JCI)公司開發(fā)制造, Chilworth是全球權(quán)威的 爆炸/燃燒危害檢測機構(gòu), 同時也是相關(guān)專業(yè)儀器和設備的制造商, JCI是其專業(yè)制造靜電檢測儀器的子公司. JCI 155 靜電衰減儀經(jīng)歷了3代的發(fā)展過程, 從最初的JCI 155v4 到 JCI1 55v5, 型號為 JCI 155v6. JCI 155靜電衰減儀可對固體,粉體和液體材料進行監(jiān)測, 軟件功能強大, 是美國國家航空和宇宙航行局(NASA)指定采用產(chǎn)品. | |
JCI 155v5 靜電衰減測試儀 Charge Decay Test Unit JCI 155v5 | |
JCI 155v5 用于測試材料的靜電衰減時間和電容負荷 可直接將JCI 155v5 放置在測試材料上測量 測量范圍: 50毫秒-28小時 測試反應時間: 10毫秒 測試電壓(電暈放電): 3-10kV(可以選擇正負極性) 可檢測初始電壓降到5%-99%的衰減時間 同時測量環(huán)境溫濕度 特別設計氣閘效應, 消除殘留空氣離子干擾 高精度靜電壓測試探頭 采用配套JCI176樣品臺可測量轉(zhuǎn)移到測試料樣上的電量, 并計算出電容負荷 采用配套JCI173樣品杯可以測量粉體和液體的靜電衰減期 配套JCI-Graph軟件在電腦中儲存分析數(shù)據(jù),衰減曲線和形成報告 訂購編碼: JCI 155v5: 測試儀 JCI 166: 普通樣品臺 JCI 176: 電量測試樣品臺(可測量料樣得到的電荷量, 以評估材料電荷裝載能力) JCI 173: 粉體和液體測試料樣杯 |
ETS-406D 靜電衰減測試儀(直流充電法)Static Decay Meter 406D直流高壓電源: 0-5.5kV (連續(xù)可調(diào))靜電電壓計量程: 0-5kV (距離測試樣品1.5英寸)計時器量程: 0-99.99s (計時分辨率0.01s)衰減比例設置: 50%, 10%, 1% (0)
訂購編號 | 描述 |
ETS 406D | 包含以下物品 |
測試儀 | |
法拉第籠, 1個 | |
磁性電極, 2個 | |
條形夾具, 2個 | |
STM-2驗證模塊, 1個 | |
選配 | |
ETS 806B | 無損測試電極 |
SEM3000 靜電衰減測試儀(直流充電法)Electrostatic Discharge Unit衰減測試開始電壓: 500-1000V(按50V增幅設置)衰減測試結(jié)束電壓: 0-5V(按1V增幅設置); 10-500V(按50V增幅設置)衰減時間量程: 0-99.9秒衰減時間分辨率: 0.1秒衰減電壓分辨率: 1V人體行走測試量程: 0-2000V人體行走測試取樣率: 300毫秒人體行走測試電壓分辨率: 儀器:1V; 軟件界面: 0.01-0.1V讀數(shù)顯示: 2行16位LCD顯示屏工作電源: 內(nèi)置可充電池和外接電源適配器設備外殼: 鋁板設備重量: 1.5公斤品牌: KEINATH產(chǎn)地: 德國
訂購編號 | 描述 |
SEM3000 | 包含以下物品 |
測試儀 | |
導電袖筒, 2個 | |
屏蔽測試線, 2條 | |
接地線, 1條 | |
PTFE絕緣衣架, 1個 | |
絕緣夾鉗, 2個 | |
電源適配器 (充電器), 1個 | |
鋁質(zhì)手提箱, 1個 | |
校正書和說明書 | |
選配 | |
行走測試套件 | UAC110數(shù)據(jù)輸出轉(zhuǎn)換器 |
BNC屏蔽測試線 | |
金屬握柄 | |
配套軟件 | |
832鉗形電極 | 用于測試不規(guī)則物品靜電衰減 |
222008重錘電極 | 用于測試平面材料靜電衰減 |
222004絕緣板 | 用于放置試樣, 防止泄漏 |