H51 非金屬板厚度測試儀(又稱樓板儀)用來自動測量非金屬板(如混凝土,巖土,玻璃板等)的厚度,具有厚度測量、數(shù)據(jù)分析、數(shù)據(jù)存儲與輸出等功能,是一種便攜式、使用方便、測量精確的智能化厚度測量儀。
H51非金屬板厚度測試儀特點:
H51非金屬板厚度測試儀技術參數(shù):
厚度測量范圍 :40mm~800mm 示值最大誤差 :40 ~ 600mm ±1mm 601~800mm ±2mm數(shù)據(jù)存儲容量 :3.2萬組測點工作環(huán)境要求 環(huán)境溫度:-10℃~+40℃ 相對濕度:<90%RH 電磁干擾:無強交變電磁場 不得長時間陽光直射6節(jié)5號堿性電池,供電時間大于30小時。
H51非金屬板厚度測試儀配置:薄膜厚度測試儀特征 微電腦控制、液晶顯示 菜單式界面、PVC操作面板 接觸式測量 測頭自動升降 手動、自動雙重測量模式 數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印 顯示最大值、最小值、平均值和統(tǒng)計偏差 標準接觸面積、測量壓力(非標可選) 標準量塊標定 微型打印機 RS232接口 http://www.btjmglj.com 網(wǎng)絡傳輸接口支持局域網(wǎng)數(shù)據(jù)集中管理與互聯(lián)網(wǎng)信息傳輸 薄膜厚度測試儀技術指標 測量范圍:0~2mm;0~6mm,12mm(可選) 分辨率:0.1μm 測量速度:10次/min(可調) 測量壓力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(紙張) 接觸面積:50mm2(薄膜);200mm2(紙張) 注:薄膜、紙張任選一種;非標可定制 電源:AC220V50Hz http://www.hbjmglj.com 外形尺寸:300mm(L)×275mm(B)×300mm(H) 凈重:33kg 薄膜厚度測試儀標準 GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 薄膜厚度測試儀配置 http://www.btjmljc.com 標準配置:主機、微型打印機、標準量塊一件 選購件:專業(yè)軟件、通信電纜、配重砝碼盤、配重砝碼恒流泵 機床工作臺 圓瓶貼標機 PE膜收縮機 飲料灌裝生產線 賽多利斯 博力飛 大理石平板 大理石平臺 T型槽平臺 電動離心機 高壓試驗變壓器價格 表面材料耐磨試驗機 碳酸鈣水分快速檢測儀 美國ESC 碳硫分析儀 卡爾費休水分測定儀 氮氫空一體機 核酸蛋白檢測儀 T型槽彎板 函數(shù)信號發(fā)生器 廠家 CO2細胞培養(yǎng)箱 醫(yī)用超聲波清洗機 蘇瑪罐 皮卡刻字機 黎明液壓濾芯 插銑床 裝載機電子秤 氣動薄膜調節(jié)閥 隔爆熱電阻 自力式溫控閥 滾涂機
三維包裝機 混凝土固化劑 混凝土密封固化劑 鋼格板 鋼格柵 鋼格柵板 鋼結構工程 海綿
參數(shù):
本涂鍍層測厚儀探頭可以工作在電磁感應和渦流兩種原理下。在自動模式(AUTO)下,兩種原理可視測量的基體自動轉換,或可通過菜單進行自動模式和非自動模式轉換。
特點
1.可測量涂鍍層: 任何磁性物質表面的非磁性涂鍍層厚度;任何非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度
2.易于操作的菜單設計
3.連續(xù)和單次測量方式
4.直接工作模式和組工作模式
5.可統(tǒng)計并顯示:平均值、最大值、最小值、標準方差、統(tǒng)計數(shù)
6.非常方便的進行一點或兩點校準
7.可保存320個測量數(shù)據(jù)供隨時下載至計算機處理
8.實時刪除測量數(shù)據(jù)和組數(shù)據(jù)
9.高低限報警
10.低電和錯誤提示
11.USB傳輸數(shù)據(jù)至計算機分析統(tǒng)計
12.可設置的自動關機功能
電鍍是民經(jīng)濟中必不可少的基礎工藝性行業(yè),同時又是重污染行業(yè)。電鍍所帶來的廢氣、廢水、廢渣嚴重地影響人們的生活與健康。要提高電鍍企業(yè)的實力就必須從企業(yè)的硬件著手。而內部管控測試是必不可少的環(huán)節(jié),其中產品膜厚檢測、RoHS有害元素檢測、電鍍液分析、電鍍工業(yè)廢水、廢渣中的重金屬檢測和水質在線檢測等更是重中之重。為此江蘇天瑞儀器股份有限公司基于強大的研發(fā)和應用能力特別為電鍍行業(yè)制定了套的測試解決方案。
鍍層膜厚檢測:進行鍍層厚度的產品質量管控電鍍液分析:檢測電鍍液成分及濃度,確保鍍層質量水質在線監(jiān)測:監(jiān)測電鍍所產生的工業(yè)廢水中的有害物質含量,已達到排放標準RoHS有害元素檢測:為電鍍產品符合RoHS標準,嚴把質量關重金屬及槽液雜質檢測:檢測電鍍成品,以及由電鍍所產生的工業(yè)廢水、廢物中的重金屬含量
性能特點滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求高精度移動平臺可定位測試點,重復定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點高分辨率探頭使分析結果更加良好的射線屏蔽作用測試口高度敏感性傳感器保護技術指標型號:Thick 800A元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。分析含量般為ppm到99.9% 。鍍層厚度般在50μm以內(每種材料有所不同)任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型。多變量非線性回收程序度適應范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm重量:90kg
標準配置開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。Si-Pin探測器。信號檢測電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機應用領域黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機構;電鍍行業(yè)。
天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產權的高科技企業(yè),注冊資本46176萬。旗下?lián)碛刑K州天瑞環(huán)境科技有限公司、北京邦鑫偉業(yè)技術開發(fā)有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環(huán)境科技(仙桃)有限公司五家資子公司和廈門質譜儀器儀表有限公司、江蘇測檢測技術有限公司、上海磐合科學儀器股份有限公司三家控股子公司?偛课挥陲L景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。公司專業(yè)從事光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產和銷售。
技術參數(shù) 1.涂鍍層厚度的測量采用X-射線熒光測試方法,符合技術標準DIN50987,ISO3497和ASTM B568; 2.測量箱結構堅固,使用合格的機械和電氣部件; 3.測量箱外部尺寸:(高×寬×深)720 mm×660 mm×950 mm,重量大約為135kg; 4.帶槽箱體的內部尺寸:(高×寬×深)160 mm×560 mm×530 mm,帶向上回轉箱門; 5.原始射線從上至下; 6.高性能的X-射線管,高壓及電流設定可調節(jié)至的應用,高壓設定:50kV,40kV或30kV;陽極電流:連續(xù)可調至0.8mA; 7.原生電子過濾器:Ni和Be; 8.4個對焦平面用于凹槽,腔體的測量,并可達到90mm; 9.標準視準器組件Ⅰ有以下組成: 0.1mm(4mil); 0.2mm(8mil); 0.05x0.05mm(2x2 mil)方形; 0.03x0.2mm(1x8mil)帶槽; 在附加費用上可選的標準視準器組件Ⅱ(取代組件Ⅰ)有以下組成: 0.1mm(4mil); 0.2mm(8mil); 0.3mm(12mil)圓形; 0.05x0.3mm(2x12mil)帶槽; 在附加費用上可選的標準視準器組件Ⅲ(取代組件Ⅰ)有以下組成: 0.2mm(8mil);圓形; 0.05x0.05mm(2x2mil);0.025X0.025mm(2X2mils)方型;0.03mmX0.2mm(1.2X8mil)帶槽; 注:當測量PC印板,電腦接插件,引線框架等小工件時,推薦使用視準器組件Ⅰ 10.自動的X-射線光束十字星校準。該特性在測量極小工件時非常有用; 11.充氙氣的比例計數(shù)器,頻譜處理時,內部采用4096通道的ADC,對外顯示為256通道; 12.快速編程,高精確度,電機帶動的XY工作臺運行范圍: 型號XDVM®-T7.1:X=175mm(7.0〃), Y=175mm(7.0〃) 型號XDVM®-T7: X=250mm(10.0〃), Y=250mm(10.0〃) 13.工作臺的控制可通過鼠標點選或操作桿 14.工作臺面板可自動移出至工件放置位置;定位容易; 15.電機驅動及高度(Z-軸)可編程的X-射線頭部(X-射線管,比例計數(shù)器及視準器組件);Z-軸運行=145mm(5.9〞); 16.高分辨率的彩色攝像頭用于測試工件的定位及查看;可選擇的雙重放大率X40/X80,帶十字星及度量網(wǎng)格以及測試點尺寸指示; 17.測量箱鍵盤適合于最常用的測量功能和程序選擇,操縱桿控制X-Y工作臺,鑰匙控制X-射線頭的緩慢或快速的上下移動,LED狀態(tài)指示燈。 | ||
主要特點 FISCHERSCOPE® XDVM®-W是一款基于Windows™ 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。它的特性包括:2組可切換的各帶4個視準器的視準器組,大的開槽的測量箱體確保工件放置簡便,精確的可編程的直流電機驅動的X-Y工作臺快速和無振動移動以及原始射線從上往下設計為在Z-軸可移動的X-射線發(fā)生和接受裝置。 這個特性使得該系統(tǒng)非常適合于測量大批量生產的部件,例如螺絲,連接器插針或大的線路板。按動按鈕就可根據(jù)預設的測試點定位進行自動測量,并可自動的進行評估報告輸出。 | ||
適用于Windows®2000的真Win32位程序帶在線幫助功能; 頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的應用; 能通過“應用工具箱”(由一個帶所有應用參數(shù)的軟盤和校準標準塊組成)使校準簡單化; 畫中畫測試件查看和數(shù)據(jù)顯示,帶快速移動焦距功能放大試件圖像;十字星瞄準并帶度量網(wǎng)格,以及測試點尺寸指示; 測試工件的視頻圖像可用BMP文件形式保存; XYZ運行編程功能:隨機單點,第1點、1點及等分的中間點,鼠標左鍵點選功能,鼠標右鍵的使用相當于操縱桿; 測量模式用于: 單、雙及三層鍍層系統(tǒng) 雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量 雙層鍍層,其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析(兩層的厚度和合金成分都能被測量) 能分析多達四種金屬成分的合金并具分析金的K數(shù)的特殊功能。能分析含一到二種金屬離子的電鍍溶液; 頻譜顯示可自由選擇顏色;并可同時顯示前臺和背景的頻譜以便比較;頻譜可儲存和打印; 可使用定義的文件名進行應用文件的管理(應用文件包含應用名,數(shù)據(jù)表示方式,打印形式定義,輸出模板設定及記事本); 用戶可定義的報告編輯器,并自動插入測試工件的顯示圖像,及一些小的圖片,如公司標識,圖表,數(shù)據(jù)排列,字體選擇;可以WinWordTM形式保存; 單個的應用可連接至任意數(shù)量的應用文件(此種連接大大減少了所需要的校準及初始化步驟); 使用條形碼標簽及可選的條形碼讀入鍵盤可自動選擇應用; 可選擇數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計評估; 通過RS232串行口進行在線或離線的數(shù)據(jù)輸出; 可通過RS232串行口或在網(wǎng)絡環(huán)境下的指令文件進行遠程控制; 可編程的應用項圖標,用于快速應用項選擇 完整的統(tǒng)計功能,SPC圖,標準的概率圖和矩形圖評估 語言:英語,德語,法語,意大利語,西班牙語,中文及日文(需要特殊的Windows®版本); 可自由定義“短目錄”以鎖住某些重要的系統(tǒng)功能; |