美國(guó)x-ray膜厚儀
美國(guó)x-ray膜厚儀
產(chǎn)品用途：電鍍層厚度及多鎳鍍層電位測(cè)量
應(yīng)用領(lǐng)域：PCB、LED、航天航海、電子電器、線路板、五金鎖具、塑膠電鍍、標(biāo)準(zhǔn)件、釹鐵硼、技術(shù)監(jiān)督部門(mén)及科研機(jī)構(gòu)。
測(cè)量鍍種：裝飾鉻、鎳、銅、鋅、錫、銀、金、鎘、硬鉻、化學(xué)鎳、多層鎳，復(fù)合鍍層（如Cr/Ni/Cu）約30幾種鍍層基體組合。如需測(cè)量其他鍍層可事先提出.
鍍層底材：金屬、非金屬、釹鐵硼等
鍍層層數(shù)：?jiǎn)螌蛹皬?fù)合多層
測(cè)量范圍：13號(hào)~92號(hào)元素（保證精度情況下，更厚鍍層也可測(cè)量）
美國(guó)x-ray膜厚儀由于X光測(cè)厚儀是在線測(cè)量?jī)x表，檢測(cè)的厚度是鋼板熱態(tài)時(shí)的厚度，這樣會(huì)和冷態(tài)時(shí)的厚度有一定的偏差，所以就增加了溫度補(bǔ)償系數(shù)。使在線測(cè)量的數(shù)據(jù)與冷態(tài)時(shí)保持一致。同樣如果軋制材質(zhì)有變化時(shí)，也會(huì)給測(cè)量帶來(lái)誤差。這時(shí)只需將不同材質(zhì)的樣板進(jìn)行檢測(cè)，計(jì)算出合金補(bǔ)償系數(shù)，也可以使測(cè)量數(shù)據(jù)和實(shí)際材質(zhì)厚度保持一致。
美國(guó)x-ray膜厚儀精密度測(cè)試，精密度表示對(duì)同一個(gè)對(duì)象進(jìn)行多次測(cè)量，表征測(cè)試結(jié)果分散程度的物理量，它是一個(gè)與多次測(cè)試數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差有關(guān)的物理量。目前，對(duì)一組具有嵌套性或不具有嵌套性的數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差求解問(wèn)題的研究已經(jīng)相當(dāng)成熟，對(duì)測(cè)量設(shè)備精密度的研究可以轉(zhuǎn)化為對(duì)測(cè)量設(shè)備測(cè)試數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)偏差的求解。使用成熟的數(shù)據(jù)處理方法研究比較新的高精度設(shè)備的精密度是一種簡(jiǎn)單可行而又科學(xué)的方法。
聯(lián)系人: 舒翠
手機(jī): 13602568074
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郵箱: sc@kinglinhk.net
地址: 寶安區(qū)沙井北環(huán)大道110號(hào)新橋綜合大樓502
該公司產(chǎn)品分類(lèi)：
膜厚儀
美國(guó)bowman博曼X-RAY膜厚儀
美國(guó)bowman博曼X-RAY膜厚儀，采用真正的基本參數(shù)原理（FP）來(lái)測(cè)量厚度。電動(dòng)的X/Y 桌可以在測(cè)量門(mén)打開(kāi)時(shí)變速移動(dòng)X/Y 桌出來(lái)給操作員放置樣品及關(guān)閉測(cè)量門(mén)時(shí)移動(dòng)X/Y 桌變速返回到測(cè)量位置。高解像彩色攝影機(jī)配合強(qiáng)大的放大倍數(shù)功能使樣品的對(duì)位十分容易及在測(cè)量中也可以監(jiān)視測(cè)量的位置。如型號(hào)配備了可編測(cè)量位置的儀器更有雷射對(duì)位裝置來(lái)更快速及準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)樣品的位置測(cè)量。開(kāi)槽式的測(cè)量室設(shè)計(jì)，這可使大塊及平坦的樣品，比測(cè)量室還大的，例如：電路板，也可以測(cè)量。在整體操作上，在簡(jiǎn)易操作及強(qiáng)大功能的電腦WinFTM?軟件下，所有的測(cè)量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)可以十分清楚地表達(dá)出來(lái)。符合美國(guó)的出口規(guī)定 軟件是儀器的基本操作.此軟件可以同時(shí)間測(cè)量最多至四層鍍層、或是進(jìn)行多至5元素的合金分析、又或是最多測(cè)量?jī)蓚(gè)正離子的藥水濃度測(cè)量分析。 是另外選購(gòu)，此軟件可以容許設(shè)定測(cè)量多至24個(gè)需要分析的參數(shù)。在不使用標(biāo)準(zhǔn)片做校正的情況下，可以達(dá)至一個(gè)相當(dāng)不錯(cuò)的測(cè)量結(jié)果。測(cè)量的準(zhǔn)確度是可以用標(biāo)準(zhǔn)片校正來(lái)提高，程式是可以接受多至64個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片來(lái)做校正，標(biāo)準(zhǔn)片校正也可以保證測(cè)量可以有追溯性。如果您有什么問(wèn)題或要求，請(qǐng)您隨時(shí)聯(lián)系我們。您的任何回復(fù)我們都會(huì)高度重視。金東霖祝您工作愉快！聯(lián)系人：舒翠 136 0256 8074 QQ:2735820760
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膜厚儀
x-ray膜厚儀
x-ray膜厚儀由于X光測(cè)厚儀是在線測(cè)量?jī)x表，檢測(cè)的厚度是鋼板熱態(tài)時(shí)的厚度，這樣會(huì)和冷態(tài)時(shí)的厚度有一定的偏差，所以就增加了溫度補(bǔ)償系數(shù)。使在線測(cè)量的數(shù)據(jù)與冷態(tài)時(shí)保持一致。同樣如果軋制材質(zhì)有變化時(shí)，也會(huì)給測(cè)量帶來(lái)誤差。這時(shí)只需將不同材質(zhì)的樣板進(jìn)行檢測(cè)，計(jì)算出合金補(bǔ)償系數(shù)，也可以使測(cè)量數(shù)據(jù)和實(shí)際材質(zhì)厚度保持一致。
x-ray膜厚儀精密度測(cè)試，精密度表示對(duì)同一個(gè)對(duì)象進(jìn)行多次測(cè)量，表征測(cè)試結(jié)果分散程度的物理量，它是一個(gè)與多次測(cè)試數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差有關(guān)的物理量。目前，對(duì)一組具有嵌套性或不具有嵌套性的數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差求解問(wèn)題的研究已經(jīng)相當(dāng)成熟，對(duì)測(cè)量設(shè)備精密度的研究可以轉(zhuǎn)化為對(duì)測(cè)量設(shè)備測(cè)試數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)偏差的求解。使用成熟的數(shù)據(jù)處理方法研究比較新的高精度設(shè)備的精密度是一種簡(jiǎn)單可行而又科學(xué)的方法。
x-ray膜厚儀主要性能：
* 可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
* 可通過(guò)CCD攝像機(jī)來(lái)觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量，避免直接接觸或破壞被測(cè)物。
* 薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置，可同時(shí)對(duì)多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量。此外，適用于無(wú)鉛焊錫的應(yīng)用。
* 備有250種以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
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該公司產(chǎn)品分類(lèi)：
膜厚儀
X-ray膜厚儀
鍍層厚度測(cè)試方法般有以下幾種方法：
1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-2005
2、X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005
3、庫(kù)侖法，此法般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005
測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
2.美標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
Thick800A金屬電鍍層測(cè)厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手，得到了客戶的廣泛應(yīng)用和認(rèn)可。
應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
1 快速：般測(cè)量個(gè)樣品只需要10S～40S，樣品可不處理或進(jìn)行簡(jiǎn)單處理；
2 無(wú)損：物理測(cè)量，不改變樣品性質(zhì)；
3 ：對(duì)樣品可以分析；
4 直觀：直觀的分析譜圖，元素分布幕了然，定性分析速度快；
5 環(huán)保：檢測(cè)過(guò)程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水。
1 硬件：主機(jī)壹臺(tái)，含下列主要部件：
(1) X光管 (2) 半導(dǎo)體探測(cè)器
(3) 放大電路 (4) 高精度樣品移動(dòng)平臺(tái)
(5) 高清晰攝像頭 (6) 高壓系統(tǒng)
(7) 上照、開(kāi)放式樣品腔 (8）雙激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2 軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0
3 計(jì)算機(jī)、打印機(jī)各臺(tái)
計(jì)算機(jī)（品牌，P4，液晶顯示屏）、打印機(jī)（佳能，彩色噴墨打印機(jī)）
4 資料：使用說(shuō)明書(shū)（包括軟件操作說(shuō)明書(shū)和硬件使用說(shuō)明書(shū)）、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各份。
5 標(biāo)準(zhǔn)附件
準(zhǔn)直孔：0.1X1.0mm（已內(nèi)置于儀器中）
應(yīng)用域黃金，鉑，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè).金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。主要用于貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀行，飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
金屬鍍層分類(lèi)
若按鍍層的成分則可分為單一金屬鍍層、合金鍍層和復(fù)合鍍層三類(lèi)。
若按用途分類(lèi)，可分為：①防護(hù)性鍍層；②防護(hù)性裝飾鍍層；③裝飾性鍍層；④修復(fù)性鍍層；⑤功能性鍍層
按用途分類(lèi)可分為
①防護(hù)性鍍層：如Zn、Ni、Cd、Sn和Cd-Sn等鍍層，作為耐大氣及各種腐蝕環(huán)境的防腐蝕鍍層；
②防護(hù)．裝飾鍍層：如Cu—Ni—Cr、Ni-Fe-Cr復(fù)合鍍層等，既有裝飾性，又有防護(hù)性；
③裝飾性鍍層：如Au、Ag以及Cu．孫仿金鍍層、黑鉻、黑鎳鍍層等；
④修復(fù)性鍍層：如電鍍Ni、Cr、Fe層進(jìn)行修復(fù)一些造價(jià)頗高的易磨損件或加工超差件；
⑤金屬電鍍層測(cè)厚儀功能性鍍層：如Ag、Au等導(dǎo)電鍍層；Ni-Fe、Fe-Co、Ni-Co等導(dǎo)磁鍍層；Cr、Pt-Ru等高溫抗氧化鍍層；Ag、Cr等反光鍍層；黑鉻、黑鎳等防反光鍍層；硬鉻、Ni．SiC等耐磨鍍層；Ni．VIEE、Ni．C(石墨)減磨鍍層等；Pb、Cu、Sn、Ag等焊接性鍍層；防滲碳鍍Cu等。
應(yīng)用域 鐵基－－－－□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni， □Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基－－－－-□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
鋅基－－－－-□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑膠基體－－--plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
X-ray膜厚儀
儀器介紹
天瑞公司92年開(kāi)始做X熒光光譜儀，在質(zhì)量管理方面有完善的質(zhì)量管理體系，在來(lái)料、加工過(guò)程、整機(jī)、出貨各個(gè)環(huán)節(jié)嚴(yán)格把關(guān)，確保產(chǎn)品的性能和質(zhì)量精優(yōu)。天瑞儀器在檢測(cè)精度、檢測(cè)功能、操作便捷性等方面直保持內(nèi)。 Thick800A是天瑞儀器結(jié)合20多年的X熒光研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，集中了光電子、微電子、半導(dǎo)體和計(jì)算機(jī)等多項(xiàng)技術(shù)，研制出具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的，性價(jià)比優(yōu)的金屬電鍍層厚度檢測(cè)儀。
鍍層厚度測(cè)試方法般有以下幾種方法：
1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-2005
2、X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005
3、庫(kù)侖法，此法般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005
測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
2.美標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
性能優(yōu)勢(shì)
1.性高：由于測(cè)試過(guò)程無(wú)人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以，其測(cè)量的性更高。
2.滿足不同需求：測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強(qiáng)大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。
3.快速：40S就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度，并達(dá)到測(cè)量精度要求。
4.無(wú)損：測(cè)試前后，樣品無(wú)任何形式的變化。
5.直觀：實(shí)時(shí)譜圖，可直觀顯示產(chǎn)品測(cè)試點(diǎn)
6.簡(jiǎn)易：對(duì)人員技術(shù)要求較低，操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便。
7.性價(jià)比高：相比其他類(lèi)類(lèi)儀器，x熒光鍍層測(cè)厚儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。
該公司產(chǎn)品分類(lèi)：
波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀WDX4000
氣質(zhì)聯(lián)用儀GC-MS6800
手持式RoHS檢測(cè)儀
膜厚儀Thick800A
RoHS檢測(cè)儀EDX1800B
鍍層測(cè)厚儀Thick800A
ICP3000電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
大氣重金屬在線監(jiān)測(cè)儀
電感耦合等離子體質(zhì)譜儀ICP-MS
液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀
原子熒光光譜儀
AAS原子吸收光譜儀
水質(zhì)在線分析儀
X熒光測(cè)硫儀
食品重金屬檢測(cè)儀
高頻紅外碳硫分析儀
碳硫分析儀
礦石分析儀
糧食重金屬快速檢測(cè)儀
銅合金分析儀
螢光X-Ray膜厚儀
熒光X-Ray膜厚儀
螢光X-Ray膜厚儀說(shuō)明：1. 測(cè)量主機(jī)精巧,不占空間2. 厚度測(cè)量極限:0.001um3. 可測(cè)試單層膜厚、多層膜厚、化學(xué)鎳層膜厚、錫鉛合金層膜厚及組成比、元素分析4. 準(zhǔn)直器最小孔徑僅0.05φmm,可測(cè)量微小部品5. 采用中文窗口軟件,測(cè)定報(bào)告的擷取,非常簡(jiǎn)便
熒光X-Ray膜厚儀
| 產(chǎn)品型號(hào): | EX-3000 |
| 產(chǎn)品名稱: | 螢光X線膜厚計(jì) EX-3000 |
| 相關(guān)說(shuō)明: | |
熒光X-Ray膜厚儀特性： 1. 采用中文窗口操作系統(tǒng)，操作性簡(jiǎn)便。 2. 厚度測(cè)量極限:分辨率0.001um。 3. 可測(cè)試項(xiàng)目:單層膜厚、雙層膜厚、三層膜厚、化學(xué)鎳膜厚、 鉛合金膜厚及組成、壓鑄鋅上鍍銅、 二層同時(shí)測(cè)定、元素光譜分析。 4. 油浸式微小焦點(diǎn)X線管，50KV管電壓，由上而下垂直照射方式。 5. 采用多頻分析器，可快速處理能譜分析，可執(zhí)行測(cè)定物之能譜分析表示，操作簡(jiǎn)單。 6. 濾波器:采用Co、Ni金屬及數(shù)字式濾波器，可單一或同時(shí)使用。 7. 準(zhǔn)直器：采用5種孔徑一體式之Collimator可設(shè)定任意切換方式。 8. 彩色樣品觀察系統(tǒng)，附有＋字刻度線，清楚顯示測(cè)定位置。 9. 客戶、各部品番號(hào)、批號(hào)，可登錄在頻道內(nèi)，共有300個(gè)測(cè)量頻道數(shù)。 10.自動(dòng)測(cè)定測(cè)量臺(tái)，可使利用鼠標(biāo)或搖桿來(lái)輸入及調(diào)整測(cè)定位置，可登錄儲(chǔ)存100組自動(dòng)測(cè)定頻道，可作坐標(biāo)補(bǔ)正及頻道連結(jié)。 11.采用中文窗口作業(yè)軟件，設(shè)計(jì)及打印測(cè)量報(bào)告，插入測(cè)量位置的彩色圖片、非常容易。 12.可作數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)處理及三次元之分布圖案。 13.自動(dòng)診斷機(jī)能，故障排除對(duì)策迅速。附有X線管的使用時(shí)間及壽命表示機(jī)能，加強(qiáng)保養(yǎng)的安全性。 14.測(cè)定資料可保存在頻道內(nèi)，在統(tǒng)計(jì)項(xiàng)目設(shè)定后可做統(tǒng)計(jì)處理。 | |
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