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X射線熒光鍍層厚度測量儀

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數(shù)設定。可同時測定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為： 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為： 全程控樣品臺：XYZ三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品最大高度為150mm，XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。 Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。CMI900/950主要技術規(guī)格如下：No. 主要規(guī)格 規(guī)格描述1 X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準      75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘2 濾光片程控交換系統(tǒng) 根據(jù)靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統(tǒng)二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口3 準直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器，程序交換控制多種規(guī)格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等4 測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)5 X射線探測系統(tǒng) 封氣正比計數(shù)器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路6 樣品室 CMI900 CMI950－樣品室結構 開槽式樣品室 開閉式樣品室－最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm－XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm任選：50.8mm x 152.4mm      50.4mm x 177.8mm      101.6 x 177.8mm      177.8 x 177.8mm      610mm x 610mm 300mm x 300mm－Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時，152.4mmXY軸手動時，269.2mm－XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制－樣品觀察系統(tǒng) 高分辨、彩色、實時CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。激光輔助光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能7 計算機系統(tǒng)配置 IBM計算機：1.6G奔騰IV處理器，256M內存，1.44M軟驅，40G硬盤，CD-ROM，鼠標，鍵盤，17寸彩顯，56K調制解調器；萜栈驉燮丈噬珖娔蛴C。8 分析應用軟件 操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺中文分析軟件包：SmartLink FP軟件包－測厚范圍 可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。請告訴牛津儀器您的具體應用，我們將列表可測定的厚度范圍－基本分析功能 無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數(shù)方法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應用提供必要的校正用標準樣品。樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍：Ti22 – U92可同時測定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時，可同時測定15種元素多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析－調整和校正功能 系統(tǒng)自動調整和校正功能：校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結果的影響，自動消除系統(tǒng)漂移譜峰計數(shù)時，峰漂移自動校正功能譜峰死時間自動校正功能譜峰脈沖堆積自動剔除功能標準樣品和實測樣品間，密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計算－測量自動化功能(要求XY程控機構) 鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式測量位置預覽功能激光對焦和自動對焦功能－樣品臺程控功能(要求XY程控機構) 設定測量點One or Two Datumn (reference) Points on each file測量位置預覽(圖表顯示)－統(tǒng)計計算功能 平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表直方圖數(shù)據(jù)庫存儲功能－系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 Z軸保護傳感器樣品室門開閉傳感器操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師－任選軟件 統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量材料鑒別和分類檢測材料和合金元素分析貴金屬檢測，如Au karat評價

X射線熒光鍍層厚度測量儀 SFT-110

型號:SFT-110

測量元素:原子序號22（Ti）～83（Bi） X射線源:空冷式小型X射線管 檢測器:比例計數(shù)管 準直器:○型： 0.1mmφ、0.2mmφ　2種 樣品觀察:CCD攝像頭（可進行廣域觀察） 對焦:激光點（自動） 濾波器：一次濾波器： 自動切換 樣品臺（臺式尺寸）: 500（W） x400（D） x 150（H）mm （移動量）:X:250mm, Y:200mm 操作部:電腦、19寸液晶 測量軟件:薄膜FP法 （最多5層膜、10種元素）、標準曲線法 數(shù)據(jù)處理:配備有Microsoft® Excel、Microsoft® Word 安全機構:樣品門連鎖、樣品的防沖撞功能、儀器診斷功能

配備自動定位功能的[X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110]，使操作性進一步提高。 　　對半導體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進行測量管理，可產品的功能及品質，降低成本。精工從1971年推出非接觸、短時間內可進行高精度測量的X射線熒光鍍層厚度測量儀以來，已經累計銷售6000多臺，得到了國內外鍍層厚度、金屬薄膜測量領域的高度關注和支持。 　　為了適應日益提高的鍍層厚度測量需求，精工開發(fā)了配備有自動定位功能的X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110。通過自動定位功能，僅需把樣品放置到樣品臺上，就可在數(shù)秒內對樣品進行自動對焦。由此，無需進行以往的手動逐次對焦的操作，大大提高了樣品測量的操作性。 　　近年來，隨著檢測零件的微小化，對微區(qū)的高精度測量的需求日益增多。SFT-110實現(xiàn)微區(qū)下的高靈敏度，即使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。并且，配備有新開發(fā)的薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準物質也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量，可對應更廣泛的應用需求。

特點 即放即測！ 通過自動定位功能，放置樣品后僅需幾秒，便能自動對準觀察樣品焦點。 　 10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！ 以的設計實現(xiàn)微小區(qū)域下的高靈敏度，即使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度地提高膜厚測量的精度。 無標樣測量！ 將薄膜FP軟件進一步擴充，即使沒有厚度標準物質也能進行高精度的測量。也可簡單地測量多鍍層膜和合金膜樣品。 通過廣域觀察系統(tǒng)更方便選擇測量位置！ 通過廣域觀察系統(tǒng)，能夠從畫面上的樣品整體圖（最大250×200mm）中方便地指定測量位置

該公司產品分類： EO滅菌柜 環(huán)氧乙烷滅菌器 頂空氣相色譜 紫外可見分光光度計 環(huán)氧乙烷殘留量檢測儀 環(huán)氧乙烷滅菌柜 環(huán)氧乙烷滅菌器 儀器租賃 泰斯肯掃描電鏡 萊伯泰科 電感銷售 海光儀器 二手儀器回收 二手儀器銷售 二手儀器銷售和回收 儀器維修保養(yǎng) 賽默飛世爾（熱電） 韓國賽可儀器 瑞士萬通儀器 日本精工儀器

SFT-110X射線熒光鍍層厚度測量儀

概述：

    即放即測；10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量；

    可無標樣測量；通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置！

 

主要特點：

  1.通過自動定位功能提高操作性 測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現(xiàn)在3秒內即可完成，大大

    提高樣品定位的操作性。   2.微區(qū)膜厚測量精度提高 通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅

    度提高膜厚測量的精度。   3.多達5層的多鍍層測量 使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。   4.廣域觀察系統(tǒng)（選配） 可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。   5.對應大型印刷線路板（選配） 可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。   6.低價位 與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。

 

產品規(guī)格：

   

該公司產品分類： 尼康 卡規(guī)、角度尺、水平儀 步距規(guī)、 量塊、測厚規(guī) 測長儀 數(shù)碼工程打印機 其他各種常用量具 數(shù)顯表、百分表、杠桿表 卡尺、千分尺、微分頭 材料試驗機 除銹油 美國施泰力 東京精密 三坐標測量機 涂層測厚儀 鍍層測厚儀 測量投影儀、影像測量儀 電子天平、水分測試儀 色差、光澤計 齒輪測量儀 顯微鏡、內窺鏡

SFT9500系列X射線熒光鍍層厚度測量儀

概述：

    X射線發(fā)生系統(tǒng)為X射線聚焦光學系統(tǒng)（聚焦導管）與X射線源相結合，并且可以照射出實際照射直徑

    為 0.1mmφ以下高強度的X射線束。為此，可以對以往X射線熒光鍍層厚度測量儀由于照射強度不足而

    無法得到理想精度的導線架、插接頭、柔性線路板等微小部件及薄膜進行測量。同時搭載高計數(shù)率、

    高分辨率的半導體檢測器，在測量鍍層厚度的同時，也能對RoHS、ELV、中國版RoHS等法規(guī)所管制的

    有害物質進行分析測量。

 

主要特點：

  1.X射線發(fā)生系統(tǒng)采用了聚光導管 由于采用了X射線聚光導管方式，可得到以往十倍以上的X射線強度，

    從而可以提高微小樣品的膜厚測量及有害物質測量的精度。

  2.無需液氮的半導體檢測器 在進行薄膜測量與有害物質的濃度測量時，高分辨率的檢測器是必不可少的。

    SFT9500的檢測器不但可以達到高分辨率，而且可以實現(xiàn)高計數(shù)率。同時，由于使用了電子冷卻方式，

    所以無需液氮。

  3.能譜匹配軟件（選配件） 可瞬間識別未知樣品與事先存檔的X射線能譜庫中哪一個樣品較為接近的軟件。

    對識別材料十分有效。

  4.塊體檢量線軟件（適用于電鍍液分析） （選配件） 可簡單地測量出電鍍液中主要金屬的濃度。

  5.繪圖軟件（選配件） 將元素面分析的結果進行等高線和色彩使用等視覺處理的軟件。

  6.電鍍液容器（選配件）

  7.各種標準物質（選配件）

 

產品規(guī)格：

     

 

該公司產品分類： 尼康 卡規(guī)、角度尺、水平儀 步距規(guī)、 量塊、測厚規(guī) 測長儀 數(shù)碼工程打印機 其他各種常用量具 數(shù)顯表、百分表、杠桿表 卡尺、千分尺、微分頭 材料試驗機 除銹油 美國施泰力 東京精密 三坐標測量機 涂層測厚儀 鍍層測厚儀 測量投影儀、影像測量儀 電子天平、水分測試儀 色差、光澤計 齒輪測量儀 顯微鏡、內窺鏡

SFT9300系列X射線熒光鍍層厚度測量儀

概述：

    高速X射線管球的搭載，實現(xiàn)了高精度的測定。而且配合極微小準直器和光學變焦鏡頭可以實現(xiàn)

    極微小部分的測定。更可以對有高低平面差異的樣品進行測定。

 

主要特點：

  1.搭載了75W高性能X射線管。
  2.搭載標準的Φ50μm微小準直管（最小Φ15μm）。
  3.容易對微小領域進行觀察。搭載了能4階段切換的可變焦距光學系統(tǒng)。
  4.依據(jù)照明能很容易對以前觀察困難的樣品進行觀察。
  5.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。
  6.搭載了焦點切換功能，能夠對有高度的樣品的低部分進行測定。
  7.利用伺服馬達精確的驅動平臺。
  8.運用激光聚焦功能簡單實現(xiàn)位置的調整。
 
產品規(guī)格：
     
 
 

該公司產品分類： 尼康 卡規(guī)、角度尺、水平儀 步距規(guī)、 量塊、測厚規(guī) 測長儀 數(shù)碼工程打印機 其他各種常用量具 數(shù)顯表、百分表、杠桿表 卡尺、千分尺、微分頭 材料試驗機 除銹油 美國施泰力 東京精密 三坐標測量機 涂層測厚儀 鍍層測厚儀 測量投影儀、影像測量儀 電子天平、水分測試儀 色差、光澤計 齒輪測量儀 顯微鏡、內窺鏡

SFT9200系列X射線熒光鍍層厚度測量儀

概述：

    是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計。SFT系列是本公司標準機型。有適用小型部件的SFT9200、

    有適用大型印刷基板的SFT9255。防止樣品和儀器裝備結構不吻合的功能是本系列的標準裝備。

主要特點：

    是SFT3000系列的后續(xù)機型。
  1.依據(jù)照明，可以看到以前觀察困難的樣品。
  2.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。
  3.運用激光聚焦功能簡單實現(xiàn)位置的調整。
  4.微小領域的觀察也很容易。搭載了能4階段切換的可變焦距透鏡。（任選）
  5.搭載了焦點切換功能，能夠對有高度的樣品的低部分進行測定。（任選）
 
產品規(guī)格：
     

該公司產品分類： 尼康 卡規(guī)、角度尺、水平儀 步距規(guī)、 量塊、測厚規(guī) 測長儀 數(shù)碼工程打印機 其他各種常用量具 數(shù)顯表、百分表、杠桿表 卡尺、千分尺、微分頭 材料試驗機 除銹油 美國施泰力 東京精密 三坐標測量機 涂層測厚儀 鍍層測厚儀 測量投影儀、影像測量儀 電子天平、水分測試儀 色差、光澤計 齒輪測量儀 顯微鏡、內窺鏡

SFT-110X射線熒光鍍層厚度測量儀

 

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日本精工電子有限公司的子公司精工電子納米科技有限公司將在5月初推出配備自動定位功能的［X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110］，使操作性進一步提高。對半導體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進行測量管理，可保證產品的功能及品質，降低成本。
產品詳細信息
儀器簡介：
日本精工電子有限公司的子公司精工電子納米科技有限公司將在5月初推出配備自動定位功能的［X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110］，使操作性進一步提高。對半導體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進行測量管理，可保證產品的功能及品質，降低成本。精工從1971年首次推出非接觸、短時間內可進行高精度測量的X射線熒光鍍層厚度測量儀以來，已經累計銷售6000多臺，得到了國內外鍍層厚度、金屬薄膜測量領域的高度關注和支持。為了適應日益提高的鍍層厚度測量需求，精工開發(fā)了配備有自動定位功能的X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110。通過自動定位功能，僅需把樣品放置到樣品臺上，就可在數(shù)秒內對樣品進行自動對焦。由此，無需進行以往的手動逐次對焦的操作，大大提高了樣品測量的操作性。近年來，隨著檢測零件的微小化，對微區(qū)的高精度測量的需求日益增多。SFT-110實現(xiàn)微區(qū)下的高靈敏度，即使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。并且，配備有新開發(fā)的薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準物質也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量，可對應更廣泛的應用需求。技術參數(shù)：
［主要產品規(guī)格］檢測器：比例計數(shù)管X射線源：空冷式小型X射線管準直器： 0.1、0.2mmφ2種樣品觀察： CCD攝像頭樣品臺：[固定] 535×530mm        [電動] 260×210mm  （移動量 X:250mm, Y:200mm）樣品最大高度：150mm
主要特點：
［SFT-110的主要特征］1. 通過自動定位功能提高操作性測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現(xiàn)在3秒內即可完成，大大提高樣品定位的操作性。2. 微區(qū)膜厚測量精度提高通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。3. 多達5層的多鍍層測量使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。4. 廣域觀察系統(tǒng)（選配）可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。5. 對應大型印刷線路板（選配）可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。6. 低價位
 
該公司產品分類： 粘度計 流變儀 質構儀 X射線熒光鍍層厚度測量儀 粉體流動測試儀 ZATE電位分析儀 IKA PH計/電導率儀 水分測定儀 電子天平 梅特勒

STF-110X射線熒光鍍層厚度測量儀STF-110

品名

X射線熒光鍍層厚度測量儀STF-110

型號

SFT-110

概要

1.即放即測！2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！3.可無標樣測量！4.通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置！

特長

［SFT-110的主要特征］ 1. 通過自動定位功能提高操作性 測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現(xiàn)在3秒內即可完成，大大提高樣品定位的操作性。 2. 微區(qū)膜厚測量精度提高 通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。 3. 多達5層的多鍍層測量 使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。 4. 廣域觀察系統(tǒng)（選配） 可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。 5. 對應大型印刷線路板（選配） 可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。 6. 低價位 與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。

［主要產品規(guī)格］

檢測器

比例計數(shù)管

X射線源

空冷式小型X射線管

準直器

0.1、0.2mmφ2種

樣品觀察

CCD攝像頭

樣品臺移動量

250（X）×200（Y）mm

樣品最大高度

150mm

該公司產品分類： 手持式熒光分析儀 鍍層測厚儀 熒光分析儀

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